Meanwhile, the decrease of Eg with

Meanwhile, the decrease of Eg with the increase of thickness is likely to be attributed to the increase of lattice constant [7,21–23]. From the XRD results, we suggest that the two absorption edges observed in trace (a) are due to poor crystallinity of ZnGa2O4:Cr3+ film.
Fig. 6 shows the PL and PLE spectra of ZnGa2O4:Cr3+ powder and thin film phosphors grown on quartz substrates at oxygen pressure of 0 and 1 Pa, respectively. Fig. 7 shows an energy-level diagram of ZnGa2O4:Cr3+ based on the measurement results.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในขณะที่ลดลงเช่นมีการเพิ่มขึ้นของความหนามีแนวโน้มที่จะนำมาประกอบกับการเพิ่มขึ้นอย่างต่อเนื่องของตาข่าย [7,21-23] จากผล XRD เราขอแนะนำให้สองขอบตั้งข้อสังเกตในการดูดซึมร่องรอย (ก) เนื่องจากผลึกที่ดีของ ZnGa2O4. Cr3 + ฟิล์ม
รูป 6 แสดง PL และสเปกตรัมของ PLE ZnGa2O4 ผง Cr3 + และสารเรืองแสงฟิล์มบางที่ปลูกในพื้นผิวผลึกที่ความดันของออกซิเจน 0 และ 1 ป่าตามลำดับ มะเดื่อ 7 แสดงแผนภาพพลังงานระดับของ ZnGa2O4: Cr3 + ขึ้นอยู่กับผลการวัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ทั้งนี้ การลดลงของเช่นกับการเพิ่มขึ้นของความหนาน่าจะเกิดจากการเพิ่มของตารางคงที่ [ 7,21 23 – ] จากผลตรวจ เราแนะนำว่าทั้งสองการดูดซึมขอบสังเกตติดตาม ( ) เกิดจากผลึกยากจนทางเคมี znga2o4 :
รูปที่ 6 แสดงภาพยนตร์ และสเปกตรัมของ znga2o4 : คุณเปิ้ลทางเคมีผง และบาง phosphors ภาพยนตร์เติบโตบนพื้นผิวผลึกที่ออกซิเจนความดันของ 0 และ 1 ) ตามลำดับ รูปที่ 7 แสดงระดับพลังงานของ znga2o4 : แผนภาพทางเคมีบนพื้นฐานของการวัดผล