Titanium dioxide as constituent of

Titanium dioxide as constituent of advanced ceramics
plays an important role in various fields of
technology, but if used as oxygen sensor, capacitors
or diezoelectric applications, its electrical properties
of these ceramics are significantly affected by some
metal impurities, such as Cr, Fe, V, Zr and Cu [1,2].
Therefore, powerful analytical methods are required
as routine analysis to determine the impurities in the
production of advanced ceramics. From these require-ments, atomic or mass spectrometric methods are of
greatest importance [3,4]. Owing to matrix interferences
from matrix Ti, and/or insufficient sensitivity,
the matrix–analyte separation is necessary for decreasing
the detection limits, therefore, a wet chemical decomposition
and matrix–analyte separation procedure
prior to the analysis has been developed [5]. Unfortunately,
this procedure for ceramic materials is often
time-consuming and important source of systematic
errors caused by blanks or analyte losses. Therefore,
there is a large need for the method of direct solid sample
analysis, which can be used as routine analysis.
Solid sampling techniques developed for ICP-AES include
direct insertion of solid [6], slurry nebulization

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ไทเทเนียมไดออกไซด์เป็นวิภาคของเซรามิกส์ขั้นสูงมีบทบาทสำคัญในเขตต่าง ๆ ของเทคโนโลยี แต่ถ้าใช้ออกซิเจนเซ็นเซอร์ ตัวเก็บประจุหรือโปรแกรม ประยุกต์ diezoelectric คุณสมบัติของไฟฟ้าของเครื่องเคลือบเหล่านี้เป็นอย่างมากได้รับผลกระทบ โดยบางโลหะสิ่งสกปรก เช่น Cr, Fe, V, Zr และ Cu [1, 2]ดังนั้น วิธีวิเคราะห์ที่มีประสิทธิภาพจะต้องเป็นประจำในการวิเคราะห์เพื่อกำหนดสิ่งสกปรกในการผลิตเซรามิกส์ขั้นสูง จากนี้ต้อง-ments วิธีอะตอม หรือ spectrometric โดยรวมมียิ่งความสำคัญ [3, 4] เพราะ interferences เมตริกซ์จากเมตริกซ์ตี้ และ/หรือความไวไม่เพียงพอแยกเมทริกซ์ – analyte เป็นสิ่งจำเป็นสำหรับการลดการตรวจพบจำกัด ดังนั้น ปฏิกิริยาเปียกและขั้นตอนการแยกเมทริกซ์ – analyteก่อนการวิเคราะห์ได้รับการพัฒนาแล้ว [5] อับขั้นตอนนี้สำหรับวัสดุเซรามิกมักจะเป็นแหล่งสำคัญ และเวลาของระบบข้อผิดพลาดที่เกิดจากช่องว่างหรือขาดทุนจากการ analyte ดังนั้นมีขนาดใหญ่จำเป็นสำหรับวิธีการตัวอย่างของแข็งโดยตรงวิเคราะห์ ซึ่งสามารถใช้เป็นวิเคราะห์เป็นประจำรวมเทคนิคการสุ่มตัวอย่างแข็งแกร่งพัฒนาสำหรับ ICP AESของแข็ง [6], nebulization สารละลายแทรกโดยตรง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ไทเทเนียมไดออกไซด์เป็นส่วนประกอบของเซรามิกขั้นสูง
มีบทบาทสำคัญในด้านต่างๆของ
เทคโนโลยี แต่ถ้าใช้เป็นเซ็นเซอร์ออกซิเจนประจุ
หรือโปรแกรม diezoelectric คุณสมบัติไฟฟ้า
ของเซรามิกเหล่านี้จะได้รับผลกระทบอย่างมีนัยสำคัญโดยบาง
สิ่งสกปรกโลหะเช่น Cr, Fe, V , Zr และทองแดง [1,2].
ดังนั้นวิธีการวิเคราะห์ที่มีประสิทธิภาพจำเป็นต้องมี
การวิเคราะห์ประจำเพื่อตรวจสอบสิ่งสกปรกใน
การผลิตเซรามิกขั้นสูง จากเหล่านี้จำเป็นต้อง-ments, อะตอมหรือมวล spectrometric วิธีการที่มีความ
สำคัญมากที่สุด [3,4] เนื่องจากการรบกวนเมทริกซ์
จากเมทริกซ์ Ti, และ / หรือความไวเพียงพอ
แยกเมทริกซ์วิเคราะห์เป็นสิ่งจำเป็นสำหรับการลด
ข้อ จำกัด ของการตรวจสอบดังนั้นการสลายตัวทางเคมีเปียก
และขั้นตอนการแยกเมทริกซ์วิเคราะห์
ก่อนที่จะวิเคราะห์ได้รับการพัฒนา [5] แต่น่าเสียดายที่
ขั้นตอนนี้สำหรับวัสดุเซรามิกมักจะ
ใช้เวลานานและแหล่งสำคัญของระบบ
ข้อผิดพลาดที่เกิดจากช่องว่างหรือความสูญเสียวิเคราะห์ ดังนั้นจึง
มีความจำเป็นต้องมีขนาดใหญ่สำหรับวิธีการของกลุ่มตัวอย่างที่เป็นของแข็งโดยตรง
การวิเคราะห์ที่สามารถใช้ในการวิเคราะห์ประจำ.
เทคนิคการสุ่มตัวอย่างที่เป็นของแข็งการพัฒนาสำหรับ ICP-AES รวมถึง
การแทรกโดยตรงของของแข็ง [6] สารละลายพ่นยา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ไทเทเนียมไดออกไซด์เป็นองค์ประกอบ
เซรามิกส์ขั้นสูง มีบทบาทสำคัญในด้านต่าง ๆของ
เทคโนโลยี แต่ถ้าใช้เป็น ออกซิเจน เซ็นเซอร์ตัวเก็บประจุ
หรือโปรแกรม diezoelectric ของสมบัติทางไฟฟ้าของเซรามิกเหล่านี้จะมีผลต่อค่า

มีสิ่งเจือปนโลหะเช่นโครเมียม , เหล็ก , V , ZR และ Cu [ 1 , 2 ] .
ดังนั้น วิธีการวิเคราะห์ที่มีประสิทธิภาพจะต้อง
การวิเคราะห์ประจำวันเพื่อตรวจสอบสิ่งเจือปนใน
การผลิตเซรามิกส์ขั้นสูง จากเหล่านี้ต้องการ ments , อะตอม หรือมวลวิธีความมีความสําคัญมากที่สุด
[ 3 , 4 ] เนื่องจากการแทรกแซงจากเมทริกซ์เมทริกซ์
TI และ / หรือความไวไม่พอ
Matrix –ครูแยกเป็นสิ่งจำเป็นสำหรับการลด
จำกัด ดังนั้น การสลาย
เคมีเปียกและเมทริกซ์–ครูแยกขั้นตอน
ก่อนการวิเคราะห์ได้รับการพัฒนา [ 5 ] แต่น่าเสียดายที่
ขั้นตอนนี้สำหรับวัสดุเซรามิกมักจะใช้เวลานาน และที่สำคัญแหล่งที่มาของระบบ

ข้อผิดพลาดที่เกิดจากช่องว่าง หรือครูที่สูญเสีย ดังนั้น
มีความต้องการขนาดใหญ่สำหรับวิธีวิเคราะห์ตัวอย่าง
แข็งโดยตรง ซึ่งสามารถใช้เป็นข้อมูล
ตามปกติของแข็ง เทคนิคการสุ่มตัวอย่างพัฒนาเทคนิครวมถึง
แทรกโดยตรงของของแข็งของเหลว nebulization [ 6 ]