Analyses2.2.1. Transmission electro

Analyses
2.2.1. Transmission electron microscopy
The precipitated crystals were characterized by TEM on a Jeol 2010
F operated at 200 kV, coupled with an energy-dispersive X-ray spectrometer (EDX) chemical analyzer (PGT-PRISM 2000, associated with
IMIX software, with probe size of 1 nm, acquisition time of 300 s).
Samples were prepared by two methods leading to consistent results. In
the first method, a drop of the solution containing magnetite nanoparticles was directly deposited onto a copper mesh grid covered with a
carbon film. After 10 s, the drop was removed and the grid was allowed
to dry. In the second method, a solution containing precipitated magnetite particles was carefully washed after precipitation and evaporated
under vacuum the following night. Particles were then placed in ethanol, and a drop of this mixture was placed onto the copper mesh grid
for TEM analysis. The only difference observed between the two types
of preparation was the presence, in the first case, of sodium nitrate
crystals which were completely absent in the second case. Particle sizes
were analyzed using standard analytical software for processing digitized electron microscopy images (Gatan DigitalMicrograph, Scion
Image and CaRIne Cristallography [Monceau and Boudias, 1996]).
Additional measurements were carried out by electron energy-loss
spectroscopy (EELS) on a dedicated scanning transmission electron
microscope VG HB005 equipped with a cold field emission gun providing a high energy resolution (0.6 eV) and a high spatial resolution
(0.7 nm)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์
2.2.1 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนผลึกตกตะกอนโดดเด่นด้วย TEM ใน Jeol 2010 F ดำเนินการที่ 200 กิโลโวลต์คู่กับพลังงานกระจายสเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์ (EDX) วิเคราะห์ทางเคมี (PGT-PRISM 2000 ที่เกี่ยวข้องกับซอฟแวร์IMIX กับขนาดของการสอบสวน 1 นาโนเมตรเวลาการเข้าซื้อกิจการ 300 s). ตัวอย่างที่จัดทำขึ้นโดยสองวิธีการที่นำไปสู่ผลที่สอดคล้องกัน ในวิธีแรกลดลงของการแก้ปัญหาที่มีอนุภาคนาโนแม่เหล็กถูกวางลงบนตารางโดยตรงตาข่ายทองแดงปกคลุมด้วยฟิล์มคาร์บอน หลังจาก 10 วินาที, การลดลงจะถูกลบออกและตารางได้รับอนุญาตให้แห้ง ในวิธีที่สองวิธีการแก้ปัญหาที่มีอนุภาคแม่เหล็กตกตะกอนถูกล้างอย่างระมัดระวังหลังจากตกตะกอนและระเหยภายใต้สุญญากาศในคืนต่อมา อนุภาคถูกวางไว้แล้วในเอทานอลและการลดลงของส่วนผสมนี้ถูกวางลงบนตารางตาข่ายทองแดงสำหรับการวิเคราะห์ TEM ข้อแตกต่างที่สังเกตระหว่างสองประเภทของการเตรียมการก็ปรากฏตัวในกรณีแรกของโซเดียมไนเตรทผลึกซึ่งสมบูรณ์อยู่ในกรณีที่สอง ขนาดอนุภาคถูกนำมาวิเคราะห์โดยใช้ซอฟต์แวร์การวิเคราะห์มาตรฐานสำหรับการประมวลผลภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนดิจิตอล (Gatan DigitalMicrograph, การปลูกถ่ายอวัยวะภาพและCarine Cristallography [Monceau และ Boudias 1996]). วัดเพิ่มเติมได้ดำเนินการโดยอิเล็กตรอนการสูญเสียพลังงานสเปกโทรสโก (ปลาไหล) ในการสแกนเฉพาะ การส่งผ่านอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์VG HB005 พร้อมกับสนามเย็นปืนการปล่อยให้มีการลงมติพลังงานสูง (0.6 eV) และความละเอียดเชิงพื้นที่สูง(0.7 นาโนเมตร)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วิเคราะห์
2.2.1 . การตกตะกอนผลึกเป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
ลักษณะ tem บนจอล 2010
F ดำเนินการ 200 กิโล ควบคู่กับพลังงานกระจายตัวสเปกโตรมิเตอร์รังสีเอ็กซ์ ( การวัด ) วิเคราะห์ทางเคมี ( pgt-prism 2000 , ที่เกี่ยวข้องกับ
imix ซอฟต์แวร์ที่มีขนาดหัว 1 nm , ซื้อเวลา 300 S )
ตัวอย่างเตรียมโดยสอง วิธีการที่นำไปสู่ผลลัพธ์ที่สอดคล้องกัน ใน
วิธีแรก หยดของสารละลายที่มีอนุภาคนาโนแมกนีไทต์อยู่ตรงฝากบนทองแดงตาข่ายตารางปกคลุมด้วย
คาร์บอนฟิล์ม หลังจาก 10 วินาที , แบบหล่นออกและตารางก็อนุญาต
แห้ง ในวิธีที่สองซึ่งเป็นโซลูชั่นที่มีการตกตะกอนอนุภาคแม่เหล็กรอบคอบล้างหลังการตกตะกอนและระเหย
สุญญากาศคืนต่อไปนี้อนุภาคที่ถูกวางไว้แล้วในเอทานอล และหยดส่วนผสมนี้จะถูกวางไว้บนตะแกรงตาข่ายทองแดง
สำหรับการวิเคราะห์แบบ . แต่พบความแตกต่างระหว่างสองประเภทของการเตรียมการ
อยู่ในกรณีแรกของผลึกโซเดียมไนเตรท
ซึ่งขาดอย่างสมบูรณ์ในคดีที่สอง ขนาดอนุภาค
วิเคราะห์ข้อมูลโดยใช้โปรแกรมวิเคราะห์มาตรฐานสำหรับการประมวลผลดิจิตอลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( gatan digitalmicrograph ภาพภาพและ Scion
คาริน cristallography และ monceau boudias [ 1996 ] )
วัดเพิ่มเติม ได้ดำเนินการโดยสเปกโทรสโกปีสูญเสียอิเล็กตรอนพลังงาน ( ปลาไหล )

โดยเฉพาะการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์ 2 hb005 พร้อมกับเย็นให้ความละเอียดด้านการปล่อยปืนพลังงานสูง ( 0.6 EV ) และความละเอียดเชิงพื้นที่สูง
( 0.7 nm )