Electron beam reflected off specim

Electron beam reflected off
specimen’s surface

1.Specimen need less preparation and can be any thickness

3. 3D-surface image

2.can see things down to ~ 10 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สะท้อนลำแสงอิเล็กตรอน พื้นผิวของชิ้นงาน 1.ตัวอย่างต้องการเตรียมการน้อยกว่า และสามารถใด ๆ ความหนา 3. 3D-พื้นผิวภาพ 2.สามารถดูสิ่งที่ลงไป ~ 10 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อิเลคตรอนลำแสงที่สะท้อนออก
ตัวอย่างของพื้นผิว1.Specimen ต้องเตรียมการน้อยลงและสามารถเป็นความหนา3 3D พื้นผิวของภาพ2. สามารถมองเห็นสิ่งที่ลงไป ~ 10 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลำแสงอิเล็กตรอนที่สะท้อนออกตัวอย่างของพื้นผิว1 . ตัวอย่างต้องเตรียมน้อยลงและสามารถใด ๆความหนา3 . ภาพ 3 มิติพื้นผิว2.can เห็นสิ่งต่างๆ ลงไป ~ 10 นาโนเมตร