The EDS detector used in this study

The EDS detector used in this study has been optimised for use with
ultra high resolution imaging conditions in SEM. Typically these imaging
conditions require lowincident electron energies and shortworking
distances [1]. To increase detection efficiency, X-Max Extreme has a radically
redesigned geometrywith reduced take of angle to achieve an analyticalworking
distance of sub 5mminmany instruments. The sample
to sensor distance is also minimised, typically halved when compared
with a conventional 80 mm2 EDS detector, and therefore the detector

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เครื่องตรวจจับ EDS ที่ใช้ในการศึกษานี้ที่เหมาะสมสำหรับใช้กับอัลตร้าความละเอียดสูงภาพเงื่อนไขในเชมปกติภาพเหล่านี้เงื่อนไขต้องพลังงานอิเล็กตรอน lowincident และ shortworkingระยะทาง [1] เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพในการตรวจจับ X-Max สุดขีดมีความรุนแรงออกแบบใหม่ geometrywith ลดใช้มุมเพื่อให้บรรลุการ analyticalworkingระยะห่างของเครื่องมือย่อย 5mminmany ตัวอย่างเซนเซอร์ ระยะจะยังลดลง มักจะผ่าครึ่งเมื่อเทียบมี mm2 80 เป็นธรรมดาจับ EDS และเครื่องตรวจจับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เครื่องตรวจจับ EDS ใช้ในการศึกษานี้ได้รับการปรับให้เหมาะสมกับการใช้งานกับ
อัลตร้าความละเอียดสูงเงื่อนไขการถ่ายภาพใน SEM โดยปกติการถ่ายภาพเหล่านี้
เงื่อนไขที่จำเป็นต้องใช้พลังงานอิเล็กตรอน lowincident และ shortworking
ระยะทาง [1] เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพในการตรวจสอบ, X-Max มากมีอย่างรุนแรง
ออกแบบ geometrywith ลดการใช้เวลาของมุมเพื่อให้บรรลุ analyticalworking
ระยะทางของเครื่องมือ 5mminmany ย่อย กลุ่มตัวอย่างที่ใช้
ในการเซ็นเซอร์ระยะทางจะลดลงโดยทั่วไปแล้วจะลดลงครึ่งหนึ่งเมื่อเทียบ
กับการชุมนุม 80 mm2 EDS ตรวจจับและดังนั้นจึงตรวจจับ