specimens from layers at various de

specimens from layers at various depths were obtained by grinding, polishing and final ion milling,by used transmission electron microscope with an operating voltage of 200 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวอย่างจากชั้นลึกต่าง ๆ รับบด ขัด และ สีสุดท้ายไอออน โดยใช้ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการไฟฟ้า 200 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างจากชั้นที่ระดับความลึกต่าง ๆ ที่ได้จากการเจียรขัดและกัดไอออนสุดท้ายโดยที่ใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีแรงดันไฟฟ้าปฏิบัติการ 200 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตัวอย่างจากเลเยอร์ที่ความลึกต่างๆ ที่ได้จากการบดขัดและไอออน กัด สุดท้าย โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีการดำเนินงานที่แรงดัน 200 KV .