The film thickness was determined u

The film thickness was determined using the interference method with an interference objective lens (CF IC EPIPLAN DI 50XA, Nikon).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความหนาของฟิล์มที่ถูกกำหนดโดยใช้วิธีการแทรกแซง ด้วยเลนส์วัตถุประสงค์การรบกวน (CF IC EPIPLAN DI 50XA, Nikon)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความหนาของฟิล์มที่ได้รับการกำหนดโดยใช้วิธีการรบกวนที่มีวัตถุประสงค์การรบกวนเลนส์ (CF IC EPIPLAN DI 50XA, Nikon)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความหนาของฟิล์มที่ใช้วิเคราะห์สัญญาณรบกวนสัญญาณรบกวน ( เลนส์วัตถุประสงค์ ( CF IC epiplan di 50xa , Nikon )