We present reliability and maintena

We present reliability and maintenance models for systems subject to multiple s-dependent competing failure processes with a changing, dependent failure threshold. In our model, two failure processes are considered: soft failure caused by continuous degradation together with additional abrupt degradation due to a shock process, and hard failure caused by the instantaneous stress from the same shock process. These two failure processes are correlated or s-dependent in two respects: 1) the arrival of each shock load affects both failure processes, and 2) the shock process impacts the hard failure threshold level. In previous research, the failure thresholds are fixed constants, which is appropriate for most design and reliability problems. However, the nature of the failure threshold has become a critical issue for certain classes of complex devices. When withstanding shocks, the system is deteriorating, and its resistance to failure is weakening. In this case, it becomes more sensitive to hard failure. In this paper, three cases of dependency between the shock process and the hard failure threshold level are studied. The first case is that the hard failure threshold value changes to a lower level when the first shock is recorded above a critical value, or a generalized extreme shock model. The second case is that the hard failure threshold value decreases to a lower level when the time lag between two sequential shocks is less than a threshold δ, or a generalized δ-shock model. The third case is that the hard failure threshold value reduces to a lower level right after m shocks whose magnitudes are larger than a critical value, or a generalized m-shock model. Based on degradation and random shock modeling, reliability models are developed for these two s-dependent failure processes with a shifting failure threshold. Two preventive maintenance policies are also applied and compared to decide which one is more benefic- al. Then a Micro-Electro-Mechanical System example is given to demonstrate the reliability models and maintenance polices.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เราแสดงความน่าเชื่อถือและรูปแบบการบำรุงรักษาระบบมีหลาย s-ขึ้นอยู่กับการแข่งขันความล้มเหลวของกระบวนการกับขีดจำกัดของความล้มเหลวการเปลี่ยน ขึ้นอยู่ ในรุ่นของเรา ถือเป็นความล้มเหลวของกระบวนการที่สอง: ความล้มเหลวอ่อนที่เกิดจากการสลายตัวอย่างต่อเนื่องพร้อมกับเพิ่มเติมการลดอย่างทันทีทันใดเนื่องจากกระบวนการช็อก และล้มเหลวยากที่เกิดจากความเครียดกำลังจากการช็อตเดียว กระบวนการเหล่านี้ล้มเหลวสองมี correlated หรือ s ขึ้นอยู่กับในสองประการ: 1) มาโหลดแต่ละช็อตมีผลต่อการล้มเหลวทั้งสอง และ 2) การช็อกผลกระทบระดับขีดจำกัดความล้มเหลวของฮาร์ดดิสก์ งานวิจัยก่อนหน้านี้ ขีดจำกัดเหลวคงที่ค่าคงที่ ที่เหมาะสมสำหรับปัญหาออกแบบและความน่าเชื่อถือมากที่สุด อย่างไรก็ตาม ลักษณะของขีดจำกัดของความล้มเหลวได้กลายเป็น ปัญหาสำคัญสำหรับการสอนบางอย่างของอุปกรณ์ที่ซับซ้อน เมื่อซิแรงกระแทก ระบบกำลังทรุดลง และเป็นการลดลงของความต้านทานการล้มเหลว ในกรณีนี้ มันจะอ่อนไหวมากกับความล้มเหลวของฮาร์ดดิสก์ ในเอกสารนี้ กรณีที่สามของการอ้างอิงระหว่างกระบวนการช็อกและระดับขีดจำกัดเหลวยากจะเรียน กรณีแรกคือ ว่า ค่าขีดจำกัดเหลวยากเปลี่ยนระดับที่ต่ำกว่าเมื่อบันทึกช็อตแรกข้างต้นเป็นค่าที่สำคัญ หรือแบบช็อกเมจแบบทั่วไปมาก กรณีที่สองคือ ว่า ค่าขีดจำกัดเหลวยากลดระดับต่ำกว่าเมื่อช่วงห่างเวลาระหว่างสองลำดับแรงกระแทกน้อยกว่าδจำกัด หรือแบบเมจแบบทั่วไปδ-ช็อค กรณีที่สามคือ ว่า ค่าขีดจำกัดเหลวยากลดระดับล่างขวาหลังจาก m shocks magnitudes มีขนาดใหญ่กว่าค่าที่สำคัญ หรือแบบ m เมจแบบทั่วไปช็อต ขึ้นอยู่กับการสลายตัวและไล่สุ่มสร้างโมเดล แบบจำลองความน่าเชื่อถือถูกพัฒนาสำหรับกระบวนการ s ขึ้นอยู่กับความล้มเหลวเหล่านี้สองมีขีดจำกัดความล้มเหลวที่เลื่อนลอย นโยบายการบำรุงรักษาสองยังใช้ และเปรียบเทียบในการตัดสินใจซึ่งเป็นกว่า benefic-อัล แล้วตัวอย่างระบบไมโครกลไฟได้แสดงให้เห็นถึงรูปแบบความน่าเชื่อถือ และการบำรุงรักษาด้านนโยบาย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เรานำเสนอความน่าเชื่อถือและการบำรุงรักษารูปแบบสำหรับระบบการหลาย s ขึ้นอยู่กับความล้มเหลวในการแข่งขันกระบวนการที่มีการเปลี่ยนแปลงขึ้นอยู่กับเกณฑ์ความล้มเหลว ในรูปแบบของเราสองกระบวนการนี​​้ถือว่าเป็นความล้มเหลวของความล้มเหลวอ่อนที่เกิดจากการย่อยสลายอย่างต่อเนื่องพร้อมกับการย่อยสลายอย่างกระทันหันเพิ่มเติมเนื่องจากการช็อตและความล้มเหลวอย่างหนักที่เกิดจากความเครียดทันทีจากกระบวนการช็อตเดียวกัน ทั้งสองกระบวนการล้มเหลวมีความสัมพันธ์หรือ s-ขึ้นอยู่ในสองประการคือ 1) การมาถึงของโหลดแต่ละช็อตที่มีผลกระทบต่อทั้งความล้มเหลวของกระบวนการและ 2) ขั้นตอนการอัพผลกระทบต่อระดับเกณฑ์ความล้มเหลวอย่างหนัก ในการวิจัยก่อนหน้านี้เกณฑ์ความล้มเหลวที่มีการแก้ไขค่าคงที่ซึ่งมีความเหมาะสมมากที่สุดสำหรับการออกแบบและความน่าเชื่อถือปัญหา แต่ธรรมชาติของเกณฑ์ความล้มเหลวได้กลายเป็นปัญหาที่สำคัญสำหรับบางชั้นเรียนของอุปกรณ์ที่ซับซ้อน เมื่ออดทนต่อแรงกระแทกระบบจะทวีความรุนแรงและความต้านทานต่อความล้มเหลวที่จะลดลง ในกรณีนี้มันจะกลายเป็นความไวต่อความล้มเหลวอย่างหนัก ในบทความนี้สามกรณีของการพึ่งพาระหว่างขั้นตอนการช็อตและความล้มเหลวในระดับเกณฑ์ยากที่มีการศึกษา กรณีแรกคือการที่ยากการเปลี่ยนแปลงค่าเกณฑ์ความล้มเหลวในระดับที่ต่ำกว่าเมื่อช็อตแรกที่จะถูกบันทึกไว้ข้างต้นค่าวิกฤตหรือแบบช็อกรุนแรงทั่วไป กรณีที่สองคือค่าเกณฑ์ความล้มเหลวอย่างหนักลดลงในระดับที่ต่ำกว่าเมื่อล่าช้าเวลาระหว่างสองช็อตต่อเนื่องน้อยกว่าเกณฑ์δหรือรุ่นδ-ช็อกทั่วไป กรณีที่สามคือค่าเกณฑ์ความล้มเหลวอย่างหนักที่จะลดต่ำกว่าระดับที่เหมาะสมหลังจากที่มีแรงกระแทกเมตรเคาะมีขนาดใหญ่กว่าค่าวิกฤตหรือรุ่น M-ช็อกทั่วไป ขึ้นอยู่กับการย่อยสลายและการสร้างแบบจำลองการช็อตแบบสุ่มรูปแบบความน่าเชื่อถือได้รับการพัฒนาสำหรับทั้งสอง s ขึ้นอยู่กับความล้มเหลวของกระบวนการที่มีความล้มเหลวเกณฑ์ขยับ สองนโยบายการบำรุงรักษาเชิงป้องกันที่นำมาใช้และเมื่อเทียบกับการตัดสินใจที่หนึ่งที่มากขึ้น benefic อัล แล้วเช่น Micro-Electro-Mechanical ระบบจะได้รับการแสดงให้เห็นถึงรูปแบบของความน่าเชื่อถือและการบำรุงรักษาของเจ้าหน้าที่ตำรวจ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เรานำเสนอแบบจำลองความน่าเชื่อถือและบำรุงรักษาสำหรับระบบการ s-dependent การแข่งขันความล้มเหลวหลายกระบวนการที่มีการเปลี่ยนแปลงเกณฑ์ความล้มเหลวขึ้นอยู่กับ ในแบบของเรา สองกระบวนพิจารณาความล้มเหลวความล้มเหลวที่เกิดจากการย่อยสลายอ่อนต่อเนื่อง พร้อมกับเพิ่มเติมทันทีทันใดการสลายตัวเนื่องจากกระบวนการดูดและความล้มเหลวฮาร์ดดิสก์ที่เกิดจากความเครียดได้ทันทีจากกระบวนการ ตกใจเหมือนกัน กระบวนการที่สอง ความล้มเหลวเหล่านี้มีความสัมพันธ์กัน หรือ s-dependent สองประการ : 1 ) การมาถึงของแต่ละช็อต โหลด มีผลต่อกระบวนการทั้งความล้มเหลวและ 2 ) กระบวนการช็อกผลกระทบอย่างหนักความล้มเหลวเกณฑ์ระดับ ในงานวิจัยก่อนหน้านี้ล้มเหลว ซึ่งจะคงที่ค่าคงที่ซึ่งเป็นที่เหมาะสมสำหรับปัญหาการออกแบบมากที่สุดและความน่าเชื่อถือ อย่างไรก็ตาม ธรรมชาติของความล้มเหลวธรณีประตูกลายเป็นปัญหาสำคัญสำหรับการเรียนบางอย่างของอุปกรณ์ที่ซับซ้อน เมื่อทนต่อแรงกระแทก ระบบจะทวีความรุนแรงขึ้น และความต้านทานของความล้มเหลวจะอ่อนตัวลง ในกรณีนี้ มันกลายเป็นความไวต่อยากล้มเหลว ในกระดาษนี้สามกรณีเกี่ยวพันระหว่างกระบวนการและความล้มเหลวของช็อกหนัก ระดับการศึกษา กรณีแรกคือ ฮาร์ดวายค่าเกณฑ์การเปลี่ยนแปลงไปยังระดับล่างเมื่อช็อตแรกบันทึกข้างต้นเป็นค่าวิกฤต หรือแบบตกใจสุดๆ แบบคดีที่สอง คือความล้มเหลวของฮาร์ดดิสก์มีค่าลดลงที่ระดับต่ำเมื่อเวลาล่าช้าระหว่างสองแบบกระแทกน้อยกว่าเกณฑ์δหรือรูปแบบทั่วไปδ - ช็อก คดีที่สามคือการที่ยากเกณฑ์ค่าลดความล้มเหลวในระดับล่างขวากระแทกหลัง M ที่มีขนาดใหญ่กว่า ค่าวิกฤต หรือนัย m-shock นางแบบจากการย่อยสลายและแบบช็อกแบบโมเดลความน่าเชื่อถือถูกพัฒนาขึ้นสำหรับสอง s-dependent ความล้มเหลวของกระบวนการที่มีการขยับเกณฑ์ความล้มเหลว สองนโยบายการบำรุงรักษาเชิงป้องกันยังใช้เปรียบเทียบเพื่อตัดสินใจอันไหนมากกว่า benefic - อัล ระบบเครื่องกลไฟฟ้าจุลภาคแล้วตัวอย่างจะได้รับ แสดงให้เห็นถึงความน่าเชื่อถือแบบจำลอง และการบำรุงรักษาด้านนโยบาย