On the basis of such analyses, A1 a

On the basis of such analyses, A1 and A2 parameters were further compared among CIS, Cd–CIS, and Zn– CIS NCs. As shown in Table 3, A1 and A2 parameters are decreased for both 0.2 Cd–CIS and 0.5 Cd–CIS compared to those of CIS. This indicates that Cd alloying may reduce surface or intrinsic defects of NCs. This observation could explain why the QYs of Cd–CIS increase to 12–14 % compared to those of CIS (*7 %). For 0.2 Zn–CIS and 0.5 Zn–CIS, A1 parameters increase to 6 and 11 % and A2 parameters increase to 28 and 33 %, respectively. This suggests that the Zn alloying increases surface or intrinsic defects, resulting in the low QYs of Zn–CIS. Moreover, more Zn alloyed in CIS causes more defects and thus a lower QY. An increased number of defects in

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บนพื้นฐานของการวิเคราะห์ดังกล่าว A1 และ A2 พารามิเตอร์เพิ่มเติมเปรียบเทียบ ระหว่าง CIS ซี – CIS, Zn – CIS NCs ดังแสดงในตารางที่ 3, A1 และ A2 พารามิเตอร์จะลดลงสำหรับซีดี – CIS ทั้ง 0.2 และ 0.5 ซี – CIS เมื่อเทียบกับของ CIS บ่งชี้ว่า ซีดีเจืออาจลดข้อบกพร่องของพื้นผิว หรือลักษณะของ NCs สังเกตนี้สามารถอธิบายเหตุผลการเพิ่ม QYs ของแผ่นซีดี – CIS 12 – 14% เมื่อเทียบกับของ CIS (* 7%) 0.2 Zn – CIS และ 0.5 Zn – CIS, A1 พารามิเตอร์เพิ่ม 6 และ 11% และเพิ่มพารามิเตอร์ A2 28 และ 33% ตามลำดับ นี้แนะนำว่า Zn เจือเพิ่มพื้นผิว หรือลักษณะบกพร่อง เกิดในต่ำ QYs ของ Zn – CIS นอกจากนี้ เพิ่มเติม Zn ธาตุต่าง ๆ ใน CIS ทำให้ข้อบกพร่องเพิ่มเติม และทำให้คุณภาพเสียงต่ำกว่า การเพิ่มจำนวนของข้อบกพร่องใน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

บนพื้นฐานของการวิเคราะห์ดังกล่าว A1 และ A2 พารามิเตอร์ถูกนำมาเปรียบเทียบต่อไปในหมู่ CIS, CD-CIS และ Zn- CIS NCs ดังแสดงในตารางที่ 3 A1 และ A2 พารามิเตอร์ที่ลดลงสำหรับทั้ง 0.2 Cd-CIS และ 0.5 แผ่น Cd-CIS เมื่อเทียบกับบรรดาของ CIS นี้บ่งชี้ว่า Cd ผสมอาจลดหรือพื้นผิวที่แท้จริงของข้อบกพร่อง NCs ข้อสังเกตนี้อาจอธิบายได้ว่าทำไม QYs ซีดี CIS เพิ่มขึ้น 12-14% เมื่อเทียบกับบรรดาของ CIS (* 7%) สำหรับ 0.2 Zn-CIS และ 0.5 Zn-CIS พารามิเตอร์ A1 เพิ่มขึ้นถึง 6 และ 11% และพารามิเตอร์ A2 เพิ่มขึ้นถึง 28 และ 33% ตามลำดับ นี้แสดงให้เห็นว่าการผสมสังกะสีเพิ่มพื้นผิวที่แท้จริงหรือข้อบกพร่องที่เกิดใน QYs ต่ำของ Zn-CIS นอกจากนี้ยังมีธาตุสังกะสีมากขึ้นอัลลอยด์ใน CIS ทำให้เกิดข้อบกพร่องมากขึ้นและทำให้ต่ำ QY จำนวนที่เพิ่มขึ้นของข้อบกพร่องใน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

บนพื้นฐานของการวิเคราะห์ เช่น A1 และ A2 ค่าเพิ่มเติม เปรียบเทียบระหว่าง CIS , CIS ( CD , และสังกะสี และ CIS NCS . ดังแสดงในตารางที่ 3 A1 และ A2 ค่าลดลงทั้งซีดีและแผ่นซีดี CIS 0.2 และ 0.5 – CIS เปรียบเทียบกับของ CIS นี้บ่งชี้ว่าซีดีเจือปนอาจลดพื้นผิวหรือภายใน ความบกพร่องของ NCS . การสังเกตนี้อาจอธิบายได้ว่า ทำไม qys ของ CIS ซีดี–เพิ่ม 12 – 14 % เมื่อเปรียบเทียบกับของ CIS ( 7% ) สำหรับสังกะสีและสังกะสี 0.2 และ 0.5 CIS และ CIS , A1 พารามิเตอร์เพิ่มขึ้นเป็น 6 และ 11 % และพารามิเตอร์ A2 เพิ่ม 28 และ 33% ตามลำดับ นี้แสดงให้เห็นว่าสังกะสีอัลลอยเพิ่มพื้นผิวหรือภายในข้อบกพร่องที่เกิดใน qys ต่ำของสังกะสีและ CIS นอกจากนี้สังกะสีอัลลอยเพิ่มเติมใน CIS สาเหตุข้อบกพร่องมากขึ้นและดังนั้นจึง qy ต่ำกว่า การเพิ่มจำนวนของข้อบกพร่องใน