The X-ray diffractograms of SH, CSH

The X-ray diffractograms of SH, CSH, WSH30 and WSH40 were obtained at room temperature within a 2θ range from 5 to 40° and a scan rate of 1° min−1. The equipment used was a diffractometer Shimadzu LabX XRD-6000, operating at a power of 40 kV with a current of 30 mA and Cu Kα radiation (1.5406 Å). Before performing the XRD, all samples were dried at 50 °C for 12 h in an air-circulating oven. The crystallinity index (CrI) of the material was determined by the Segal method ( Segal, 1959) as shown in Eq

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Diffractograms เอ็กซ์เรย์ SH, CSH, WSH30 และ WSH40 ได้รับอุณหภูมิห้องในช่วง 2θ จาก 5 กับ 40° min−1 1° อัตราการสแกน อุปกรณ์ที่ใช้ถูก diffractometer Shimadzu LabX XRD-6000 ปฏิบัติที่ไฟฟ้า 40 kV กับกระแส 30 mA และ Cu Kα รังสี (1.5406 Å) ก่อนทำการ XRD มีแห้งตัวอย่างทั้งหมดที่ 50 ° C สำหรับ h 12 ในเตาอบอากาศหมุนเวียน ดัชนี crystallinity (สถาบันวิจัยจุฬา) วัสดุที่กำหนด โดยวิธี Segal (Segal, 1959) ดังที่แสดงในคณะกรรมการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

diffractograms เอ็กซ์เรย์ของ SH, CSH, WSH30 และ WSH40 ได้รับที่อุณหภูมิห้องอยู่ในช่วง2θ 5-40 องศาและมีอัตราการสแกน 1 ° 1 นาที อุปกรณ์ที่ใช้เป็นมาตรการเลี้ยวเบน Shimadzu LabX XRD-6000 การดำเนินงานที่กำลังไฟ 40 กิโลโวลต์ของที่มีในปัจจุบันของ 30 mA และทองแดงKαรังสี (1.5406 A) ก่อนที่จะดำเนิน XRD ตัวอย่างทั้งหมดถูกแห้งที่ 50 องศาเซลเซียสเป็นเวลา 12 ชั่วโมงในเตาอบอากาศหมุนเวียน ดัชนีผลึก (CRI) ของวัสดุที่ถูกกำหนดโดยวิธีการที่ซีกัล (ซีกัล, 1959) ดังแสดงในสมการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

diffractograms เอ็กซเรย์ของ SH csh wsh30 wsh40 , และได้รับที่อุณหภูมิห้องภายใน 2 θตั้งแต่ 5 ถึง 40 องศา และสแกนอัตรา 1 °มิน− 1 อุปกรณ์ที่ใช้คือ ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ Shimadzu labx xrd-6000 ปฏิบัติการ ที่ให้พลังงาน 40 กิโลด้วยปัจจุบัน 30 MA และ Cu K αรังสี ( 1.5406 Å ) ก่อนที่จะทำการวิเคราะห์ตัวอย่างแห้งที่อุณหภูมิ 50 องศาซี เป็นเวลา 12 ชั่วโมง ในการหมุนเวียนอากาศในเตาอบดัชนีความเป็นผลึก ( CRI ) ของวัสดุที่ถูกกำหนดโดยวิธีการ ซีกัล ( Segal , 1959 ) ตามที่แสดงในอีคิว