The examination of powdered R-EPDM

The examination of powdered R-EPDM and tensile
fractured surfaces analysis were carried out using a Zeiss
Supra-35VP scanning electron microscope (SEM) to obtain
information regarding the filler dispersion and to detect the
possible presence of micro-defects. The fractured pieces
were coated with a layer of gold/palladium to eliminate
electrostatic charge build-up during examination.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตรวจสอบผง R-EPDM และแรงดึงวิเคราะห์ผิว fractured ได้ดำเนินการใช้เป็น Zeissกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน supra-35VP (SEM) เพื่อขอรับข้อมูล เกี่ยวกับการกระจายตัวฟิลเลอร์ และตรวจหาการไมโครข้อบกพร่องก็ได้ ชิ้น fracturedถูกเคลือบ ด้วยชั้นของทอง/พาลาเดียมเพื่อกำจัดค่าไฟฟ้าสถิตเกิดในระหว่างการตรวจสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การตรวจสอบของผง R-EPDM
และแรงดึงร้าววิเคราะห์พื้นผิวที่ได้ดำเนินการโดยใช้Zeiss
Supra-35VP กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ที่จะได้รับข้อมูลเกี่ยวกับการกระจายตัวของฟิลเลอร์และการตรวจสอบการแสดงตนเป็นไปได้ของข้อบกพร่องขนาดเล็ก ชิ้นร้าวถูกเคลือบด้วยชั้นของทอง / แพลเลเดียมที่จะกำจัดประจุไฟฟ้าสร้างขึ้นในระหว่างการตรวจสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสอบของผง r-epdm และแรงดึง
ร้าวการวิเคราะห์พื้นผิวได้ทดลองใช้ Zeiss
supra-35vp กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เพื่อให้ได้ข้อมูลเกี่ยวกับฟิลเลอร์กระจาย

และตรวจสอบสถานะที่เป็นไปได้ของไมโคร ข้อบกพร่อง การหักชิ้น
ถูกเคลือบด้วยชั้นของทอง / แพลเลเดียมเพื่อขจัด
สะสมประจุไฟฟ้าระหว่างสอบ