Built-in Self Test (BIST) provides

Built-in Self Test (BIST) provides single stuck-at fault coverage of the microcode and large logic arrays, as well as testing of the instruction cache, data cache, Translation Lookaside Buffers (TLBs) and ROMs

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวในการทดสอบด้วยตนเอง (BIST) ให้ติดอยู่คนเดียวที่คุ้มครองความผิดของเฟิร์มแวอาร์เรย์และตรรกะที่มีขนาดใหญ่เช่นเดียวกับการทดสอบการใช้งานแคชแคชข้อมูลแปล Lookaside บัฟเฟอร์ (TLBs) และรอม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สร้างแบบทดสอบด้วยตนเองในทางเดียวที่ติดให้ครอบคลุมความผิดของไมโครโค้ดข้อมูลและตรรกะขนาดใหญ่ เช่นเดียวกับการทดสอบการแคชแคชข้อมูล การแปล lookaside บัฟเฟอร์ ( tlbs รอม
) และ