Surface photovoltage (SPV) measurem

Surface photovoltage (SPV) measurements are a widely used method to determine the minority carrier diffusion length of semiconductors. Since the transport of minority carriers determines the behavior of the p-n junctions that are ubiquitous in semiconductor devices, surface photovoltage data can be very helpful in understanding their performance. As a contactless method, SPV is a popular technique for characterizing poorly understood compound semiconductors where the fabrication of ohmic contacts or special device structures may be difficult.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัดพื้นผิว photovoltage (SPV) มีวิธีการใช้กันอย่างกว้างขวางเพื่อกำหนดความยาวแพร่ขนส่งชนกลุ่มน้อยของสารกึ่งตัวนำ เนื่องจากการขนส่งของชนกลุ่มน้อยผู้ให้บริการกำหนดพฤติกรรมของทางแยก p-n ที่มีแพร่หลายในอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ผิว photovoltage ข้อมูลได้ประโยชน์มากในการทำความเข้าใจประสิทธิภาพของพวกเขา เป็นวิธีการสัมผัส SPV เป็นเทคนิคนิยมศึกษาสารกึ่งตัวนำสารที่เข้าใจได้ไม่ดีซึ่งการผลิตของเขี้ยวติดต่อหรือโครงสร้างอุปกรณ์พิเศษที่อาจจะยาก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

photovoltage พื้นผิว (SPV) วัดเป็นวิธีที่ใช้กันอย่างแพร่หลายในการกำหนดระยะเวลาในชนกลุ่มน้อยผู้ให้บริการการแพร่กระจายของเซมิคอนดักเตอร์ เนื่องจากผู้ให้บริการขนส่งของชนกลุ่มน้อยที่เป็นตัวกำหนดพฤติกรรมของทางแยก PN ที่แพร่หลายในอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ข้อมูล photovoltage พื้นผิวจะมีประโยชน์มากในการทำความเข้าใจประสิทธิภาพของพวกเขา เป็นวิธีการสัมผัส, SPV เป็นเทคนิคที่นิยมสำหรับการพัฒนาการเข้าใจเซมิคอนดักเตอร์สารประกอบที่การผลิตของผู้ติดต่อ ohmic หรือโครงสร้างอุปกรณ์พิเศษอาจจะยาก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ชิ้นงานพื้นผิว ( ซ ) วัดเป็น ใช้กันอย่างแพร่หลาย วิธีการตรวจสอบพาหะการแพร่ความยาวของสารกึ่งตัวนำ เนื่องจากการขนส่งของพาหะส่วนน้อยจะกำหนดพฤติกรรมของ p-n ทางแยกที่แพร่หลายในอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ข้อมูลพื้นผิวชิ้นงานได้ประโยชน์มากในการทำความเข้าใจการทำงานของพวกเขา เป็นวิธีการสัมผัส หากเป็นเทคนิคที่นิยม , แสดงสารประกอบที่ไม่ค่อยเข้าใจระบบการติดต่อหรือโครงสร้างค่าอุปกรณ์พิเศษ อาจจะยาก