The typical IDS–VG curve measuredat

The typical IDS–VG curve measured
at a VDS of 100 mV shows that the gate can cause either hole or
electron conduction.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัดโค้งรหัส – VG ทั่วไปที่ VDS ของ 100 mV แสดงว่า ประตูอาจทำให้เกิดเป็นรู หรือการนำอิเล็กตรอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โค้ง IDS-VG ทั่วไปวัด
ที่ VDS 100 mV แสดงให้เห็นว่าประตูอาจทำให้เกิดทั้งหลุมหรือ
การนำอิเล็กตรอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดยทั่วไปรหัส– VG โค้งวัด
ที่ VDS 100 หาบ แสดงให้เห็นว่า ประตูสามารถก่อให้เกิดทั้งหลุมหรือ
อิเล็กตรอนศาสนา