The sample #1 is a mono-crystalline

The sample #1 is a mono-crystalline silicon solar cell that has an external crack at the top left end is revealed in a photo in Fig.8 (a). For Eddy Current C-Scan, 1.18 MHz and 5.52 MHz were applied at a scan. Moreover, the vector rotation for the complex phase angle facilitated better discrimination of defects.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวอย่าง # 1 เป็นซิลิกอนเซลล์แสงอาทิตย์โมโนผลึกที่มีรอยแตกภายนอกที่ปลายด้านบนซ้ายถูกเปิดเผยในภาพถ่ายใน Fig.8 A (ก) สำหรับปัจจุบัน Eddy C-Scan, 1.18 MHz และ 5.52 MHz ถูกนำไปใช้ในการสแกน นอกจากนี้ยังมีการหมุนเวกเตอร์สำหรับมุมเฟสที่ซับซ้อนอำนวยความสะดวกในการเลือกปฏิบัติที่ดีขึ้นของข้อบกพร่อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่าง #1 เป็นเซลล์แสงอาทิตย์ซิลิโคนผลึกโมโนที่มีรอยแตกภายนอกที่ด้านบนซ้ายจะถูกเปิดเผยในภาพในรูปที่ 8 (a) สำหรับการตรวจสอบ C-การสแกน๑.๑๘ MHz และ๕.๕๒ MHz ถูกนำมาใช้ที่การสแกน นอกจากนี้การหมุนเวียนเวกเตอร์สำหรับมุมเฟสที่ซับซ้อนอำนวยความสะดวกในการเลือกปฏิบัติที่ดีขึ้นของข้อบกพร่อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปใน 8-a แสดงให้เห็นว่าตัวอย่าง 1-silicon เซลล์แสงอาทิตย์ที่มีรอยแตกภายนอกในมุมซ้ายบน สำหรับกระแสไหลวนซีสแกนใช้ 1.18MHz และ 5.52MHz ทุกครั้งที่สแกน นอกจากนี้การหมุนเวกเตอร์ของมุมเฟสที่ซับซ้อนจะช่วยให้ระบุข้อบกพร่อง