Prior to dipping the electrode in a

Prior to dipping the electrode in a dye solution, a SEM (HITACHI,
600-S) and an a-step surface profiler (Dekeak 6M) were used to
obtain the micrograph and the thickness of the film on a FTO-glass
substrate, respectively. Following soaking the substrate in a dye
solution, an UV–VIS–NIR spectrophotometer (Jasco, V-600) was
used to investigate the absorbance of a dye-covered working electrode.
Further, an energy dispersive spectrometer (EDS) (Horiba
EX-200) was used to obtain the weight and atomic percentages
of elements in a dye-covered working electrode.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ก่อนที่จะจุ่มอิเล็กโทรดในโซลูชันย้อม SEM (ฮิตาชิ600-S) และใช้การได้ขั้นตอนผิวตัวสร้างโพรไฟล์ (Dekeak 6 M)รับ micrograph และความหนาของฟิล์มใน FTO-แก้วพื้นผิว ตามลำดับ ต่อไปนี้อย่างกับพื้นผิวสีแก้ปัญหา การ UV – VIS-NIR เครื่องทดสอบกรดด่าง (Jasco, V 600) ได้ใช้ตรวจสอบ absorbance ของไฟฟ้าทำงานที่ครอบคลุมย้อมเพิ่มเติม การพลังงาน dispersive สเปกโตรมิเตอร์ (EDS) (HoribaEX-200) ถูกใช้เพื่อรับน้ำหนักและเปอร์เซ็นต์อะตอมองค์ประกอบในการทำงานไฟฟ้าครอบคลุมย้อม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ก่อนที่จะมีการจุ่มขั้วไฟฟ้าในสารละลายสีย้อมเป็น SEM (HITACHI,
600-S) และรวมข้อมูลพื้นผิวเป็นขั้นตอน (Dekeak 6M)
ถูกนำมาใช้เพื่อให้ได้micrograph และความหนาของฟิล์มใน FTO
แก้วพื้นผิวตามลำดับ. ต่อไปนี้การแช่สารตั้งต้นในการย้อมการแก้ปัญหาเป็น UV-VIS-NIR spectrophotometer (Jasco, V-600) ถูกนำมาใช้ในการตรวจสอบการดูดกลืนแสงของสีย้อมที่ปกคลุมขั้วไฟฟ้าทำงาน. นอกจากนี้พลังงานสเปกโตรมิเตอร์กระจาย (EDS) (Horiba EX- 200) ถูกนำมาใช้เพื่อให้ได้น้ำหนักและร้อยละอะตอมขององค์ประกอบในสีย้อมที่ปกคลุมขั้วไฟฟ้าทำงาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ก่อนที่จะจุ่มขั้วไฟฟ้าในสารละลายสีย้อม , SEM ( Hitachi ,
600-s ) และพื้นผิว a-step Profiler ( dekeak 6m ) ใช้

ขอรับสามารถและความหนาของฟิล์มบนพื้นผิวแก้ว
FTO ตามลำดับ ต่อไปนี้ แช่ในสารละลายสีย้อม (
, UV VIS NIR –– Spectrophotometer ( jasco v-600
, ) คือใช้ในการตรวจสอบค่าสีครอบคลุมการทำงาน
อิเล็กโทรดเพิ่มเติมพลังงานกระจายตัว Spectrometer ( EDS ) ( horiba
ex-200 ) ถูกใช้เพื่อให้ได้น้ำหนักและจำนวนอะตอมของธาตุใน
ย้อมครอบคลุมการทำงานขั้วไฟฟ้า