X-ray diffraction analyses of the m

X-ray diffraction analyses of the materials were carried out using
a Philips Diffractometer model PW1710 with Cu Ka radiation
and crystal monochrome graphite with a wavelength of
l1 ¼ 1.5406 Å. Fig. 1 shows the X-ray diffraction patterns of the
materials used in this study. SCBA was observed to have characteristic
quartz diffraction peaks, indicating that a part of the residue
has a crystalline structure.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ของวัสดุถูกดำเนินการโดยใช้แบบจำลอง Philips Diffractometer PW1710 กับ Cu Ka รังสีและคริสตัลขาวดำ ด้วยความยาวคลื่นl1 1.5406 ¼Å. รูปที่ 1 แสดงรูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ของการวัสดุที่ใช้ในการศึกษานี้ พบว่า มีลักษณะ SCBAควอตซ์กระจายยอด เพื่อระบุว่า เป็นส่วนหนึ่งของสารตกค้างมีโครงสร้างผลึก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วิเคราะห์ X-ray การเลี้ยวเบนของวัสดุที่ถูกนำออกมาใช้
PW1710 รุ่น Philips diffractometer กับลูกบาศ์กการังสี
และคริสตัลขาวดำกราไฟท์ที่มีความยาวคลื่นของ
L1 ¼ 1.5406 Å มะเดื่อ. 1 แสดง X-ray รูปแบบการเลี้ยวเบนของ
วัสดุที่ใช้ในการศึกษานี้ เครื่องช่วยหายใจเป็นข้อสังเกตที่จะมีลักษณะ
ยอดควอทซ์เลนส์แสดงให้เห็นว่าเป็นส่วนหนึ่งของสารตกค้างที่
มีโครงสร้างผลึก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์และทดลองใช้วัสดุเป็น pw1710 รุ่น Philips ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับทองแดง กะ รังสีและคริสตัลขาว กับความยาวคลื่นของกราไฟท์L1 ¼ 1.5406 • . รูปที่ 1 แสดงรูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ของวัสดุที่ใช้ในการศึกษาครั้งนี้ scba ซึ่งมีลักษณะควอตซ์โดยยอด ระบุว่า ส่วนของกากมีโครงสร้างแบบผลึก