X-PEEMmeasurements were carried out

X-PEEMmeasurements were carried out on beamline BL05B2 at the
National Synchrotron Radiation Research Centre (NSRRC) in Hsinchu,
Taiwan. BL05B2 beamline uses an elliptically polarized undulator
(EPU5) with a spherical-grating monochromator, yielding very high
photon flux (2 × 1012 photons S−1 at 800 eV in a 0.4 mm × 0.2 mm
spot) with spatial resolution better than 50 nm [15,16]. The resolution
of the images collected hereinwas chosen to clearly showthe individual
particleswith a large enough field of view to simultaneously collect data
from multiple particles at once. The image resolution was typically between
150 and 200 nm. When synchrotron light is shone on a sample,
the resulting photoelectrons emitted by the sample are accelerated towards
an electron lens column and projected onto an aluminiumcoated
YAG crystal screen. The real-time, sample surface imageswere acquired
by a CCD detector mounted behind the screen in total electron yield
(TEY) mode. The analysis chamber vacuum was held at ultrahigh vacuum(
10−10 Torr).Movie stacks of images were acquired while scanning
the desired photon energy range across the Cu and Fe L-absorption
edge, so that each pixel in the stacked image contained a complete
NEXAFS spectrum. NEXAFS spectra were analysed from 20 × 20 pixel
regions with an acceptable signal-to-noise ratio. Copper and iron spectra
were calibrated using metallic standards at position 932.6 eV for
Cu L-edge [17] and 707.7 eV for Fe L-edge [18]. All spectra presented
here were normalised to a linear pre-edge fit.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

X PEEMmeasurements ได้ดำเนินการบน beamline BL05B2 ในการรังสี Synchrotron แห่งชาติศูนย์วิจัย (NSRRC) ในซิงจู้ไต้หวัน BL05B2 beamline ใช้การโพลาไรซ์ elliptically undulator(EPU5) กับ monochromator กับทรงกลม grating ผลผลิตสูงมากโฟตอนฟลักซ์ (2 × 1012 photons S−1 ที่ 800 eV เป็น 0.4 มม. × 0.2 มม.จุด) ปริภูมิความละเอียดดีกว่า 50 nm [15,16] การแก้ปัญหารูปรวบรวม hereinwas ที่เลือก showthe แต่ละอย่างชัดเจนparticleswith เป็นพอมุมพร้อมเก็บรวบรวมข้อมูลจากอนุภาคหลายครั้ง ความละเอียดภาพเป็นปกติระหว่าง150 และ 200 นาโนเมตร เมื่อ shone synchrotron ไฟบนตัวอย่างphotoelectrons ผลที่ออกมาจากตัวอย่างจะเร่งต่ออิเล็กตรอนมีเลนส์คอลัมน์ และคาดการณ์ไป aluminiumcoatedYAG คริสตัลหน้าจอ จริง ตัวอย่างพื้นผิว imageswere มาโดยจับ CCD ติดหลังจออิเล็กตรอนรวมผลตอบแทนโหมด (อังกฤษ) จัดขึ้นที่(ultrahigh สูญญากาศดูดหอวิเคราะห์10−10 ธอร์)กองภาพยนตร์ภาพได้รับมาในขณะที่การสแกนช่วงพลังงานเราต้องทั้ง Cu Fe L-ดูดซึมเอดจ์ เพื่อให้แต่ละพิกเซลในรูปแบบกองซ้อนประกอบด้วยความสมบูรณ์NEXAFS สเปกตรัม NEXAFS แรมสเป็คตราถูก analysed จาก 20 × 20 พิกเซลภูมิภาคที่ มีอัตราส่วนสัญญาณต่อเสียงยอมรับได้ ทองแดงและเหล็กแรมสเป็คตราได้รับการปรับเทียบโดยใช้มาตรฐานโลหะที่ตำแหน่ง 932.6 eV สำหรับCu L ขอบ [17] และ eV 707.7 สำหรับ L Fe ขอบ [18] แรมสเป็คตราทั้งหมดที่นำเสนอที่นี่มี normalised ขอบล่วงหน้าเส้นพอดี

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-PEEMmeasurements ได้ดำเนินการเกี่ยวกับระบบลำเลียงแสงที่ BL05B2
แห่งชาติซินโครรังสีศูนย์วิจัย (NSRRC) ใน Hsinchu
ไต้หวัน BL05B2 ระบบลำเลียงแสงที่ใช้ undulator ขั้ววงรี
(EPU5) กับ monochromator ทรงกลม-ตะแกรงผลผลิตสูงมาก
การไหลของโฟตอน (2 × 1,012 โฟตอน S-1 ที่ 800 eV ใน 0.4 มม× 0.2 มม
จุด) ที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่ดีกว่า 50 นาโนเมตร [ 15,16] ความละเอียด
ของภาพที่เก็บได้รับการแต่งตั้งอย่างชัดเจน hereinwas showthe บุคคล
particleswith ข้อมูลขนาดใหญ่พอของมุมมองไปพร้อม ๆ กันการเก็บรวบรวมข้อมูล
จากอนุภาคหลายครั้ง ความละเอียดของภาพเป็นปกติระหว่าง
150 และ 200 นาโนเมตร เมื่อแสงซินโครจะส่องตัวอย่าง,
โฟโตอิเล็กตรอนที่เกิดปล่อยออกมาจากกลุ่มตัวอย่างที่มีการเร่งตัวขึ้นต่อ
คอลัมน์เลนส์อิเล็กตรอนและฉายบน aluminiumcoated
หน้าจอคริสตัล YAG เรียลไทม์, พื้นผิวตัวอย่าง imageswere ที่ได้มา
โดยการตรวจจับที่ CCD ติดหลังจอผลผลิตอิเล็กตรอนทั้งหมด
(ใบเตย) โหมด การวิเคราะห์สูญญากาศในห้องถูกจัดขึ้นที่สูญญากาศ ultrahigh (
10-10 Torr) กอง .Movie ของภาพที่ได้มาขณะที่สแกน
ช่วงโฟตอนพลังงานที่ต้องการข้าม Cu และเฟ L-ดูดซึม
ขอบเพื่อให้พิกเซลในภาพซ้อนกันแต่ละที่มีความสมบูรณ์
สเปกตรัม NEXAFS NEXAFS สเปกตรัมจากการวิเคราะห์ 20 × 20 พิกเซล
ภูมิภาคที่มีสัญญาณรบกวนอัตราส่วนที่ยอมรับ ทองแดงและเหล็กสเปกตรัม
ได้รับการสอบเทียบโดยใช้มาตรฐานโลหะที่ตำแหน่ง 932.6 eV สำหรับ
Cu L-ขอบ [17] และ 707.7 eV สำหรับเฟ L-ขอบ [18] สเปกตรัมทั้งหมดที่นำเสนอ
ในที่นี้ปกติจะพอดีก่อนขอบเชิงเส้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

x-peemmeasurements ครั้งนี้ที่บีมไลน์ bl05b2 ที่รังสีซินโครตรอนแห่งชาติ ศูนย์วิจัย (

nsrrc ) ใน Hsinchu , ไต้หวัน bl05b2 บีมไลน์ใช้ elliptically ขั้วนดูเลเตอร์
( epu5 ) กับโมโนโครเมเตอร์ตะแกรงทรงกลมโฟตอนฟลักซ์ที่ให้ผลผลิตสูง
มาก ( 2 × 1012 โฟตอน s − 1 ใน 800 EV ใน 0.4 มม. × 0.2 mm
จุด ) ที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่กว่า 50 nm [ 15,16 ] ความละเอียด
ของภาพที่รวบรวม hereinwas เลือกให้ชัดเจน showthe บุคคล
particleswith สนามมากพอดู ไปพร้อมกันเก็บข้อมูล
จากอนุภาคหลายครั้ง ความละเอียดของภาพเป็นปกติระหว่าง
150 และ 200 นาโนเมตร เมื่อซินโครตรอนแสงส่องบนตัวอย่าง
ผลโฟโต้อิเลคตรออกมาจากตัวอย่างต่อ
จะเร่งอิเล็กตรอนเลนส์คอลัมน์และฉายเป็น aluminiumcoated
YAG หน้าจอคริสตัล . เวลาจริง , พื้นผิวตัวอย่าง imageswere ได้มา
โดย CCD เครื่องติดหลังจอในอิเล็กตรอน
ผลผลิตรวม ( เต้ย ) โหมด ห้องวิเคราะห์ถูกจัดขึ้นที่คลื่นวิทยุสูญญากาศสูญญากาศ (
10 − 10 ทอร์ ) หนังกองของภาพได้มาในขณะที่สแกน
ที่ต้องการพลังงานโฟตอนช่วงข้ามขอบทองแดงและเหล็ก l-absorption
ดังนั้นแต่ละพิกเซลในแบบซ้อนภาพที่มีสเปกตรัม
nexafs สมบูรณ์ nexafs วิเคราะห์สเปกตรัมจาก 20 × 20 พิกเซล
ภูมิภาคที่มีอัตราส่วนที่ยอมรับได้ ทองแดงและเหล็ก Spectra
ทำการสอบเทียบโดยใช้มาตรฐานโลหะที่ตำแหน่ง 932.6 EV สำหรับ
Cu l-edge [ 17 ] และ 707.7 EV , l-edge [ 18 ]ทั้งหมดนี้นำเสนอ
ที่นี่เพื่อขอบเส้นหลังก่อนพอดี