AFM, XPS, and FTIR were used to cha

AFM, XPS, and FTIR were used to characterize the surface morphology and elemental composition before
and after plasma treatment.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

AFM, XPS และ FTIR ได้ใช้ลักษณะสัณฐานวิทยาที่พื้นผิวและองค์ประกอบธาตุก่อนและหลัง จากรักษาพลาสมา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

AFM, XPS และ FTIR ถูกนำมาใช้ในการจำแนกรูปร่างพื้นผิวและองค์ประกอบธาตุก่อน
และหลังการรักษาพลาสม่า

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

AFM XPS และ FTIR ถูกใช้เพื่อวิเคราะห์ลักษณะพื้นผิวและธาตุองค์ประกอบก่อน
และหลังจากพลาสม่า การรักษา