m was analyzed and each valuerecord

m was analyzed and each value
recorded was an average of 5 measurements. The microstructural
examination of the samples was done by using a
ZEISS optical microscope and JEOL JSM-6360LV scanning
electron microscope. An energy dispersive X-ray spectrometer

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

m ถูกวิเคราะห์ และแต่ละค่าบันทึกเป็นค่าเฉลี่ยของการวัดที่ 5 การจุลภาคทำการตรวจสอบตัวอย่าง โดยใช้การกล้องจุลทรรศน์เลนส์ ZEISS และการสแกน JEOL JSM-6360LVกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน พลังงาน dispersive X-ray สเปกโตรมิเตอร์แบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ม. ได้รับการวิเคราะห์และความคุ้มค่าในแต่ละ
บันทึกเป็นค่าเฉลี่ย 5 วัด จุลภาค
การตรวจสอบของกลุ่มตัวอย่างที่ได้กระทำโดยใช้
กล้องจุลทรรศน์ ZEISS และ JEOL JSM-6360LV สแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน พลังงานกระจายสเปกโตรมิเตอร์ X-ray

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มแบบและแต่ละค่าบันทึก เฉลี่ย 5 วัด โครงสร้างจุลภาคการตรวจสอบทำได้โดยการใช้ตัวอย่างZeiss Optical Microscope จอล jsm-6360lv สแกนและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน สเปกโทรมิเตอร์รังสีเอกซ์พลังงานกระจายตัว