1. Lower inter-element interference

1. Lower inter-element interference because of higher temperature
2. Several elements can be recorded simultaneously
3. Mul'-element can be analyzed from very small sample
4. Low concentra'on compounds can be determined
5. Non-metals can also be determined by plasma sources
6. Very high concentra'on range (linear range) for plasma sources

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

1. ต่ำกว่าองค์ประกอบระหว่างรบกวนเนื่องจากอุณหภูมิสูง 2. องค์ประกอบต่าง ๆ สามารถบันทึกพร้อมกัน 3. มูล ' -สามารถวิเคราะห์องค์ประกอบจากตัวอย่างขนาดเล็กมาก 4. ต่ำ concentra'on สารสามารถกำหนด 5. ไม่ใช่โลหะสามารถยังถูกกำหนด โดยแหล่งที่พลาสม่า 6. concentra'on สูงช่วง (ช่วงเชิงเส้น) สำหรับแหล่งพลา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

1 ลดสัญญาณรบกวนระหว่างองค์ประกอบเพราะอุณหภูมิที่สูงขึ้น
2 องค์ประกอบหลายอย่างที่สามารถบันทึกพร้อมกัน
3 Mul' องค์ประกอบสามารถวิเคราะห์ได้จากกลุ่มตัวอย่างขนาดเล็กมาก
4 สารประกอบ concentra'on ต่ำสามารถกำหนด
5 อโลหะนอกจากนี้ยังสามารถกำหนดโดยแหล่งที่มาของพลาสม่า
6 ช่วง concentra'on สูงมาก (ช่วงเชิงเส้น) สำหรับแหล่งที่มาของพลาสม่า

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

1 . ลดสัญญาณรบกวนระหว่างองค์ประกอบ เพราะอุณหภูมิสูง2 . องค์ประกอบหลายอย่างที่สามารถบันทึกพร้อมกัน3 . มุล " - องค์ประกอบ สามารถวิเคราะห์ได้จากตัวอย่างมีขนาดเล็กมาก4 . สารประกอบ concentra"on ต่ำสามารถกําหนด5 . ไม่ใช่ โลหะยังสามารถกำหนดโดยแหล่งกำเนิดพลาสมา6 . ช่วงสูงมาก concentra"on ( ช่วงเชิงเส้นสำหรับแหล่งกำเนิดพลาสมา