Traced profiles of the real surface

Traced profiles of the real surface were acquired with a diamond stylus of 5-mm radius. During the measurement, the stylus was moved at a constant speed across the samples with a measuring force of 1.3 mN.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โพรไฟล์การติดตามพื้นผิวจริงที่ได้รับมา ด้วยสไตลัสเพชรของรัศมี 5 มม. ในระหว่างการวัด สไตลัสถูกย้ายที่ความเร็วคงที่ในกลุ่มตัวอย่างกับกองวัด 1.3 mN

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โปรไฟล์โยงของพื้นผิวจริงได้มาพร้อมกับสไตลัสเพชร 5 มมรัศมี ในช่วงการวัดสไตลัสที่ถูกย้ายที่ความเร็วคงที่ข้ามกลุ่มตัวอย่างที่มีการวัดแรง 1.3 mN

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตรวจสอบสภาพของพื้นผิวจริงได้มากับเพชรสไตลัสของรัศมี 5-mm . ในการวัด , สไตลัสถูกย้ายที่ความเร็วคงที่ทั่วตัวอย่างกับการวัดแรง 1.3 มิล