crystallite size reduction with possible contributions
from milling induced strain [35]. This interpretation is
consistent with the fact that significant particle size
reduction is observed in BET for dry milled NiO, but
not for slurry milled NiO.
While X-ray diffraction measurements indicate that
milling does not change the bulk crystal structure of
NiO, X-ray photoelectron spectroscopy provides clear
evidence for milling-induced chemical modification of
the NiO powder surface. The Ni 2p3/2 region of the
unmilled NiO (Fig. 3(a)) displays a multiplet which is
fitted by two peaks centered at 853.8 and 855.4 eV. It
also displays a shake-up feature fit by peaks centered
at 860.7 and 863.6 eV. The peak locations and peak
widths are consistent with the literature reports for NiO
[27,36]. In the milled NiO samples, the Ni 2p3/2
region displays subtle differences in the extent to
which the multiplet splitting peaks are resolved. This is
consistent with changes to the NiO surface either
through modification of the Ni2+/Ni3+ ratio or through
the presence of adsorbates [26,37].
The origin of the chemical modifications to the
NiO surface can be further understood by examination
of the O 1s region of the X-ray photoelectron
spectroscopy data (Fig. 3(b) and Table 3). Unmilled
NiO displays two peaks, one at 529.4 eV (full width at
half maximum (FWHM) = 1.2 eV) and the other at
531.0 eV (FWHM = 2.3 eV) (Fig. 3(b)(i)). These peaks
are frequently observed for NiO. The 529.4 eV is
assigned to oxygen in the NiO lattice [27,36]. In
previous works, the 531.0 eV has been ascribed either
to oxygen from hydroxyl or to other oxygen-containing
moieties, most likely adsorbed at defect sites [38,39]. It
has recently been shown that the 531.0 eV peak can
crystallite ลดขนาดการ มีส่วนร่วมได้จากกัดเกิดสายพันธุ์ [35] เป็นการตีความนี้สอดคล้องกับความจริงที่ขนาดอนุภาคสำคัญเป็นที่สังเกตลดเดิมพันสำหรับแห้งปลาย NiO แต่สำหรับสารละลายปลาย NiOในขณะที่เลี้ยวเบน X-ray วัดระบุว่าสีไม่เปลี่ยนโครงสร้างผลึกเป็นกลุ่มของNiO, X-ray photoelectron มิกให้ชัดเจนหลักฐานการกัดเกิดเปลี่ยนแปลงทางเคมีของพื้นผิวผง NiO ภูมิภาค 2 p 3/2 นิของการสาร NiO (รูป 3(a)) แสดงเครื่อง multiplet ซึ่งเป็นติดตั้ง โดยสองยอด eV 853.8 และ 855.4 มันยัง แสดงคุณลักษณะเขย่าพอดี โดยยอดศูนย์กลางที่ 860.7 และ 863.6 eV ตำแหน่งสูงสุดและสูงสุดความกว้างมีความสอดคล้องกับรายงานวรรณกรรมสำหรับ NiO[27,36] . ในตัวสาร NiO อย่าง Ni 2 p 3/2ภูมิภาคแสดงแตกต่างกันในขอบเขตการซึ่งยอดเขา multiplet แบ่งรับแก้ไข นี้เป็นสอดคล้องกับการเปลี่ยนแปลงพื้นผิว NiO อย่างใดอย่างหนึ่งผ่านการปรับเปลี่ยนการ Ni2 + Ni3 + อัตรา หรือผ่านการปรากฏตัวของ adsorbates [26,37]มาของการปรับเปลี่ยนสารเคมีไปNiO ผิวสามารถเข้าใจ โดยตรวจสอบเพิ่มเติมภาค O 1s ของการ X-ray photoelectronข้อมูลมิก (3(b) รูปและตารางที่ 3) สารNiO แสดงยอดสอง หนึ่ง 529.4 eV (ความกว้างเต็มที่เกินครึ่ง (FWHM) = 1.2 eV) และ531.0 eV (FWHM = 2.3 eV) (รูป 3(b)(i)) ยอดเขาเหล่านี้มักมีข้อสังเกตสำหรับ NiO 529.4 eV เป็นให้ออกซิเจนในตาข่าย NiO [27,36] ในงานก่อนหน้า 531.0 eV ได้จากนี้อย่างใดอย่างหนึ่งออกซิเจน จากไฮดรอก หรืออื่น ๆ ที่ มีออกซิเจนmoieties, adsorbed มักบกพร่องไซต์ [38,39] มันเพิ่งได้แสดงให้เห็นว่า ยอด 531.0 eV สามารถ
การแปล กรุณารอสักครู่..
