Sample analysisScanning electron mi

Sample analysis
Scanning electron microscopy (SEM)
Scanning electron microscopy coupled with energy dispersive
X-ray analysis (EDS) (JEOL JSM-6330F, JEOL
Ltd., Akishima, Tokyo, Japan) was used for characterization,
viz. morphology (shape and size) and chemistry of
airborne particles. SEM is high-resolution surface imaging
method which uses an electron beam. The samples (dry
filter papers) were randomly cut in 1 cm2 size out of the
main filter. A very thin film of platinum (Pt) was deposited
on the surface of the samples to make them electrically
conductive. These samples were mounted on electron
microprobe stubs. The SEM–EDS analyses were carried
out with the help of a computer controlled field emission
SEM equipped with EDS detection system at the Department
of Physics, University of Pune. In the present
investigation, the SEM was used in its most common mode
i.e., emissive mode. The other parameters are as follows,
Detector: Si (Li), Limit of detection, 500,000; accuracy,
10 %; energy, 20 kV (accelerating voltages, 0.5–30 kV).
Elements with atomic number less than 6 were not determined.
Carbon and fluorine were also not considered in
present discussion due to their presence on the filter
substrate.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิเคราะห์ตัวอย่างการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)การสแกนชาวดัตช์ควบคู่ไปกับพลังงาน dispersiveวิเคราะห์ (EDS) (JEOL JSM-6330F, JEOL เอ็กซ์เรย์ใช้สำหรับจำแนกลักษณะ จำกัด ดอกไม้ โตเกียว ญี่ปุ่น)ลักษณะทางสัณฐานวิทยาได้แก่ (รูปร่างและขนาด) และเคมีของอนุภาคในอากาศ SEM เป็นภาพความละเอียดสูงพื้นผิววิธีที่ใช้ลำแสงอิเล็กตรอน ตัวอย่าง (แห้งตัวกรองเอกสาร) ถูกสุ่มตัด 1 cm2 ขนาดเต็มตัวกรองหลัก ฝากฟิล์มแพลทินัม (Pt)บนผิวของตัวอย่างเพื่อทำให้ระบบไฟฟ้านำไฟฟ้า ตัวอย่างเหล่านี้ถูกยึดอิเล็กตรอนmicroprobe ปลา ดำเนินการวิเคราะห์ SEM – EDSออก ด้วยความช่วยเหลือของเครื่องคอมพิวเตอร์ที่ควบคุมการปล่อยSEM EDS ระบบการตรวจสอบที่กรมฟิสิกส์ มหาวิทยาลัยปูเน ในปัจจุบันสืบสวน SEM ที่ใช้ในโหมดทั่วไปเช่น emissive โหมด พารามิเตอร์อื่น ๆ มีดังนี้ตรวจจับ: Si (Li), ขีดจำกัดของการตรวจสอบ 500,000 ความแม่นยำ10% พลังงาน 20 kV (เร่งแรงดัน 0.5 – 30 kV)ไม่ได้กำหนดองค์ประกอบที่ มีหมายเลขอะตอมน้อยกว่า 6ฟลูออรีนและคาร์บอนยังไม่ได้พิจารณาในสนทนาอยู่เนื่องจากสถานะของพวกเขาบนตัวกรองพื้นผิว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างการวิเคราะห์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนควบคู่ไปกับการกระจายพลังงาน
การวิเคราะห์ X-ray (EDS) (JEOL JSM-6330F, JEOL
จำกัด Akishima โตเกียวประเทศญี่ปุ่น) ที่ใช้สำหรับลักษณะ
ได้แก่ ลักษณะทางสัณฐานวิทยา (รูปร่างและขนาด) และคุณสมบัติทางเคมีของ
อนุภาคในอากาศ SEM คือความละเอียดสูงถ่ายภาพพื้นผิว
วิธีที่ใช้ลำอิเล็กตรอน กลุ่มตัวอย่าง (แห้ง
เอกสาร Filter) ถูกตัดสุ่มใน 1 cm2 ขนาดออกมาจาก
ตัวกรองหลัก ฟิล์มบางมากของ Platinum (PT) ถูกวาง
บนพื้นผิวของตัวอย่างที่จะทำให้พวกเขาไฟฟ้า
กระแสไฟฟ้า ตัวอย่างเหล่านี้ถูกติดตั้งอยู่บนอิเล็กตรอน
สมบูรณ์ microprobe การวิเคราะห์ SEM-EDS ได้ดำเนินการ
ออกมาด้วยความช่วยเหลือของคอมพิวเตอร์ควบคุมข้อมูลการปล่อยก๊าซ
SEM พร้อมกับระบบการตรวจสอบ EDS ที่ภาควิชา
ฟิสิกส์มหาวิทยาลัยของปูน ในปัจจุบัน
การตรวจสอบที่ SEM ถูกนำมาใช้ในโหมดที่พบมากที่สุดของมัน
นั่นคือโหมด emissive พารามิเตอร์อื่น ๆ มีดังนี้
ตรวจจับ: Si (Li) จำกัด ของการตรวจสอบ 500,000; ความถูกต้อง
10%; พลังงาน 20 กิโลโวลต์ (แรงดันไฟฟ้าที่เร่ง 0.5-30 กิโลโวลต์).
องค์ประกอบที่มีจำนวนอะตอมน้อยกว่า 6 ไม่ได้กำหนด.
คาร์บอนและฟลูออรีนยังไม่ได้พิจารณาใน
การอภิปรายในปัจจุบันเนื่องจากการปรากฏตัวของพวกเขาในการกรอง
สารตั้งต้น