The "hot-probe" experiment provides

The "hot-probe" experiment provides a very simple way to distinghuish between n-type and p-type semiconductors using a soldering iron and a standard multimeter.
The experiment is performed by contacting a semiconductor wafer with a "hot" probe such as a heated soldering iron and a "cold" probe. Both probes are wired to a sensitive current meter. The hot probe is connected to the positive terminal of the meter while the cold probe is connected to the negative terminal. The experimental set-up is shown in the figure below:

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทดลอง "เครื่องวัด" ให้เป็นเรื่องง่ายมากเพื่อ distinghuish ระหว่างสารกึ่งตัวชนิด p และชนิด n นำที่ใช้บัดกรีเหล็กและมัลติมิเตอร์แบบมาตรฐานการทดลองดำเนินการ โดยติดต่อเวเฟอร์สารกึ่งตัวนำด้วยโพรบที่ "ร้อน" เช่นหัวแร้งที่ร้อนและการสอบสวนที่ "เย็น" วัดทั้งสองเป็นแบบมีสายจะไวต่อการวัด โพรบร้อนจะเชื่อมต่อกับขั้วบวกของมิเตอร์ในขณะที่การสอบสวนเย็นเชื่อมต่อกับขั้วลบ ทดลองตั้งค่าจะแสดงในภาพด้านล่าง:

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

"ความร้อนสอบสวน" การทดลองให้เป็นวิธีที่ง่ายมากที่จะ distinghuish ระหว่าง N-ชนิดและ P-ประเภทเซมิคอนดักเตอร์ใช้หัวแร้งและมัลติมิเตอร์มาตรฐาน.
การทดลองที่จะดำเนินการโดยการติดต่อกับเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ที่มีการสอบสวน "ร้อน" เช่น หัวแร้งอุ่นและ "เย็น" การสอบสวน โพรบทั้งสองจะสายไปเมตรปัจจุบันมีความละเอียดอ่อน ความคิดเห็นที่ร้อนจะเชื่อมต่อกับขั้วบวกของมิเตอร์ในขณะที่การสอบสวนเย็นเชื่อมต่อกับขั้วลบ ทดลองการตั้งค่าจะแสดงในรูปด้านล่าง: