Scanning electron microscopy.Sample

Scanning electron microscopy.Samples were fixed in formaldehyde, rinsed in phosphate-buffered saline, and freeze-dried in an Edwards-Pearse freeze-drier (BOC Edwards, Crawley, United Kingdom). The samples were then mounted on aluminum planchettes by using adhesive carbon tabs, sputter coated with gold, and viewed in a JEOL JSM6310 scanning electron microscope at 10 kV (JEOL, Tokyo, Japan).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สแกน microscopy อิเล็กตรอนตัวอย่างถาวรในฟอร์มาลดีไฮด์ rinsed ในน้ำเกลือฟอสเฟต buffered และอบแห้งในตัว freeze-drier Pearse เอ็ดเวิร์ด (BOC เอ็ดเวิร์ด วิคครอวเลย์ สหราชอาณาจักร) ตัวอย่างได้แล้วติดตั้งบน planchettes อลูมิเนียม โดยใช้แท็บกาวคาร์บอน sputter เคลือบ ด้วยทอง และดูในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน JEOL JSM6310 10 kV (JEOL โตเกียว ญี่ปุ่น)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อิเล็กตรอนแบบส่องกราด microscopy.Samples ได้รับการแก้ไขในฟอร์มาล​​ดีไฮด์ล้างในสารละลายฟอสเฟตบัฟเฟอร์และแห้งในเอ็ดเวิร์ด-Pearse แช่แข็งแห้ง (เอ็ดเวิร์ด BOC, Crawley, สหราชอาณาจักร) ตัวอย่างที่ถูกติดตั้งอยู่แล้วใน planchettes อลูมิเนียมโดยใช้แท็บคาร์บอนกาวพ่นเคลือบด้วยทองและดูได้ใน JEOL JSM6310 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบที่ 10 กิโลโวลต์ (JEOL, โตเกียว, ญี่ปุ่น)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ตัวอย่างคงที่ในการใช้ล้างในน้ำเกลือและฟอสเฟตบัฟเฟอร์ , แห้งใน Edwards เพียร์ซตรึงแห้ง ( BOC Edwards , Crawley , สหราชอาณาจักร ) ตัวอย่างที่ติดตั้งแล้วใน planchettes อลูมิเนียมโดยใช้กาวเม็ดคาร์บอน ละล่ำละลักเคลือบด้วยทองคำ และดูในจอล jsm6310 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ 10 kV ( Jeol , โตเกียว , ญี่ปุ่น )