Measuring Surface FinishMeasuring s

Measuring Surface Finish

Measuring surface finish can be accomplished in one of two common ways. The oldest method is to use a stylus profiler, which has been in use in various forms for more than 100 years. Non-contact methods, such as optical profilers from ZYGO, date to concepts developed in the 1980's.
Stylus Profilers for Measuring Surface Finish
Stylus profilers are contact profilers in that they physically touch the surface being measured, typically with a diamond tip on a delicately balanced arm. The stylus is dragged in contact with the surface, and as the diamond tip encounters peaks and valleys, the tip is raised and lowered from an otherwise straight line. The amount to which the stylus is raised or lowered at any given point is recorded. Sometimes the variation is compared to a reference surface, or sometimes the motion is detected in relation to some reference point in comparison to the stylus arm's position.
The result from a stylus measurement is often expressed as a single parameter (Ra), but this number is calculated from a linear data set, which is normally graphed as a line - in a profile plot.
Measuring Surface Finish with Non-contact Profilers
Non-contact methods of measuring roughness or surface finish are also common, such as Coherence Scanning Interferometry (CSI), which is used by ZYGO's lines of Optical Profilers; confocal microscopy techniques; focus variation; structured light techniques such as ZYGO's Moire interferometry; or using capacitors as a proximity sensor, measuring induced fluctuations in an electrical field.
Reasons non-contact surface finish measurements may be preferred or required:
• If a material is soft, fragile, pristine, or chemically sensitive and won't tolerate contact methods
• If material lay is a factor, and a roughness measurement in more than one direction is desired
• If consumables, such as fragile diamond stylus tips, are difficult to maintain in inventory - they aren't needed for an optical profilometer
• If volumetric data is required, such as when measuring wear of materials or the volume of an engineered micro structure

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัดพื้นผิวเสร็จสิ้นวัดผิวสามารถทำได้ในสองวิธีทั่วไป วิธีการเก่าแก่ที่สุดคือการ ใช้สร้างโปรไฟล์สไตลัส ซึ่งมีการใช้ในรูปแบบต่าง ๆ กว่า 100 ปี วิธีการไม่สัมผัส เช่น profilers แสงจาก ZYGO วันที่ไปแนวคิดที่พัฒนาขึ้นในปี 1980Profilers สไตลัสสำหรับการวัดพื้นผิวเสร็จสิ้นสไตลัส profilers เป็นติดต่อ profilers ซึ่งพวกเขาร่างกายสัมผัสพื้นผิวการวัด โดยทั่วไป ด้วยเคล็ดลับเพชรแขนเป็นสมดุลอย่างประณีต สไตลัสถูกลากกับพื้นผิว และ ตามคำแนะนำไดมอนด์พบยอดเขาและหุบเขา ปลายถูกยกขึ้น และลดลงจากบรรทัดตรงมิฉะนั้น ยอดเงินที่สไตเป็นยก หรือลดจุดที่กำหนดจะถูกบันทึกไว้ บางครั้งมีการเปรียบเทียบการเปลี่ยนแปลงพื้นผิวอ้างอิง หรือบางครั้งตรวจพบการเคลื่อนไหวให้สัมพันธ์กับจุดอ้างอิงบางเมื่อเทียบกับตำแหน่งของแขนสไตลัสมักจะมีแสดงผลจากการประเมินสไตลัสเป็นพารามิเตอร์เดียว (Ra), แต่จำนวนนี้คำนวณจากชุดข้อมูลเชิงเส้น ซึ่งโดยปกติการสร้างกราฟเป็นเส้น - ในพล็อตโปรไฟล์วัดผิวกับ Profilers-ติดต่อไม่สัมผัสวิธีการวัดความหยาบหรือพื้นผิวเสร็จสิ้นก็ทั่วไป เช่นโปรเจคการสแกน Interferometry (CSI), ซึ่งถูกใช้ โดยบรรทัดของ ZYGO ของ Profilers ออปติคอล เทคนิคกล้องจุลทรรศน์โฟคอ การเปลี่ยนแปลงโฟกัส เทคนิคโครงสร้างเบาเช่น ZYGO ของ Moire interferometry หรือใช้ตัวเก็บประจุเป็นตัวเซ็นเซอร์ การวัดเกิดความผันผวนในสนามไฟฟ้าเหตุผล-ติดต่อเกจอาจต้องการ หรือจำเป็นต้อง:•ถ้าวัสดุอ่อนนุ่ม เปราะบาง บริสุทธิ์ หรือไวต่อสารเคมี และจะไม่ทนวิธีติดต่อ•หากวางวัสดุเป็นปัจจัย และการวัดความหยาบผิวในทิศทางหนึ่งเป็นที่ต้องการ•ถ้าวัสดุสิ้นเปลือง เช่นเคล็ดลับเพชรบอบบางสไตลัส ยากที่จะรักษาในสินค้าคงคลัง - พวกเขาไม่จำเป็นสำหรับ profilometer มีแสง•ปริมาตรข้อมูลจำเป็น เช่นเมื่อวัดสึกหรอของวัสดุหรือปริมาณของโครงสร้างของไมโครออกแบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัดพื้นผิวพื้นผิวการวัดสามารถทำได้ในหนึ่งในสองวิธีร่วมกัน วิธีการที่เก่าแก่ที่สุดคือการใช้ Profiler สไตลัสที่ได้รับในการใช้งานในรูปแบบต่างๆมานานกว่า 100 ปี ไม่ใช่วิธีการติดต่อเช่นโปรแสงจาก Zygo วันกับแนวคิดการพัฒนาในปี 1980. สไตลัสโปรสำหรับวัดพื้นผิวสไตลัสโปรมีโปรติดต่อที่พวกเขาร่างกายสัมผัสพื้นผิวที่ถูกวัดโดยทั่วไปด้วยปลายเพชรบนสมดุลประณีต แขน. สไตลัสถูกลากในการติดต่อกับพื้นผิวและเป็นปลายเพชรพบยอดเขาและหุบเขาปลายจะเพิ่มขึ้นและลดลงจากเส้นตรงอย่างอื่น จำนวนเงินที่สไตลัสจะเพิ่มขึ้นหรือลดลงที่จุดใดก็ตามจะถูกบันทึกไว้ บางครั้งการเปลี่ยนแปลงเมื่อเทียบกับพื้นผิวการอ้างอิงหรือบางครั้งการเคลื่อนไหวมีการตรวจพบในความสัมพันธ์กับจุดอ้างอิงในการเปรียบเทียบกับตำแหน่งแขนสไตลัสของ. ผลที่ได้จากการวัดสไตลัสมักจะแสดงเป็นพารามิเตอร์เดียว (Ra) แต่ตัวเลขนี้ คำนวณจากชุดข้อมูลเชิงเส้นซึ่งจะแสดงเป็นกราฟปกติเป็นบรรทัด -. ในพล็อตโปรไฟล์วัดเคลือบผิวด้วยผลิตภัณฑ์แบบไม่สัมผัส profilers วิธีการแบบไม่สัมผัสในการวัดความขรุขระหรือพื้นผิวยังเป็นคนธรรมดาเช่นการเชื่อมโยงกันในการสแกนอินเตอร์เฟอ (CSI ) ซึ่งจะถูกใช้โดยสาย Zygo ของโปรออปติคอล เทคนิคการใช้กล้องจุลทรรศน์ confocal; เน้นรูปแบบ; เทคนิคแสงที่มีโครงสร้างเช่น Zygo ของอินเตอร์เฟ Moire; . หรือใช้ตัวเก็บประจุเป็นเซ็นเซอร์ความใกล้ชิดวัดความผันผวนในการชักนำให้เกิดสนามไฟฟ้าไม่ใช่เหตุผลติดต่อวัดพื้นผิวอาจจะต้องการหรือจำเป็นต้องใช้: •หากวัสดุที่นุ่มบอบบางบริสุทธิ์หรือมีความสำคัญทางเคมีและจะไม่ยอมให้มีวิธีการติดต่อ•หากวางวัสดุที่เป็นปัจจัยและการวัดความหยาบกร้านในทิศทางมากกว่าหนึ่งที่เป็นที่ต้องการ•หากสิ้นเปลืองเช่นเปราะบางเคล็ดลับเพชรสไตลัสเป็นเรื่องยากที่จะรักษาในสินค้าคงคลัง - พวกเขาจะไม่จำเป็นสำหรับการ Profilometer แสง•หากข้อมูลปริมาตร เป็นสิ่งจำเป็นเช่นสวมใส่เมื่อวัดของวัสดุหรือปริมาณของโครงสร้างไมโครวิศวกรรม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวัดพื้นผิวการวัดพื้นผิวสามารถทำได้ในหนึ่งในสองวิธีการทั่วไป . วิธีที่เก่าแก่ที่สุดคือใช้สไตลัส นักวิเคราะห์ ซึ่งได้ถูกใช้ในรูปแบบต่างๆ มากกว่า 100 ปี วิธีการติดต่อไม่ได้ เช่น แสงจากนักวิเคราะห์พฤติกรรม Zygo วันที่แนวคิดการพัฒนาในปี 1980สไตลัสนักวิเคราะห์พฤติกรรมการวัดพื้นผิวสไตลัสนักวิเคราะห์พฤติกรรมติดต่อนักวิเคราะห์พฤติกรรมที่พวกเขาร่างกายสัมผัสพื้นผิวที่ถูกวัดโดยทั่วไปด้วยปลายเพชรที่แขนอย่างสมดุล สไตลัสลากสัมผัสกับพื้นผิว และเป็นเพชรเคล็ดลับพบยอดเขาและหุบเขา ปลายยก และลดลงจากสายอื่นตรง ปริมาณที่เพิ่มขึ้นจะเพิ่มขึ้นหรือลดลงที่ได้บันทึกไว้ บางครั้งการเปรียบเทียบกับการอ้างอิงพื้นผิว หรือบางครั้งการเคลื่อนไหวที่ตรวจพบในความสัมพันธ์กับบางจุดอ้างอิงในการเปรียบเทียบกับตำแหน่งสไตลัสของแขน .ผลที่ได้จากการวัดสไตลัสที่มักจะแสดงเป็นพารามิเตอร์เดียว ( RA ) แต่ตัวเลขนี้คำนวณจากเส้นชุดข้อมูล ซึ่งโดยปกติคือกราฟเป็นเส้น - ในโปรไฟล์ใหม่การวัดพื้นผิวนักวิเคราะห์พฤติกรรม ไม่สัมผัสกับไม่ติดต่อ วิธีการวัดความขรุขระหรือพื้นผิวยังมีทั่วไป เช่นการสแกนอินเตอร์เฟอโรเมทรี ( CSI ) ซึ่งถูกใช้โดย Zygo เป็นเส้นแสงนักวิเคราะห์พฤติกรรม เทคนิคจุลทรรศน์แบบแสงโฟกัสด้วย ; ความผันแปร ; เทคนิคเช่น Zygo เป็นโหมด : การสนับสนุน หรือการใช้ตัวเก็บประจุเป็นพร็อกซิมิตี้เซนเซอร์ วัดเกิดความผันผวนในทุ่งหญ้า ไฟฟ้าเหตุผลที่ไม่สัมผัสพื้นผิวเสร็จวัดอาจจะต้องการหรือต้องการ :- ถ้าเป็นวัสดุเนื้อนุ่ม กรอบ เก่าแก่ หรือสารเคมีที่ไว และไม่ยอมให้เป็นวิธีการติดต่อ- ถ้าวางวัตถุเป็นปัจจัย และความขรุขระของการวัดในมากกว่าหนึ่งทิศทางที่ต้องการ- ถ้าอุปกรณ์สิ้นเปลืองเช่นเคล็ดลับการเพชรเปราะบางยากที่จะรักษาในคลัง - พวกเขาไม่ได้ต้องการให้ profilometer แสง- ถ้าข้อมูลปริมาตรจําเป็น เช่น เมื่อวัดการสึกหรอของวัสดุหรือปริมาณไมโครวิศวกรรมโครงสร้าง