In scanning probe microscopy, there

In scanning probe microscopy, there are two primary
causes of tip and sample damage. Any lateral force that the
tip exerts on the sample can cause the sample to tear (the
tip plows through the sample). Likewise, lateral forces from
a hard sample can cause the end of the tip to fracture and
break off. Normal forces can also cause damage to both
tip and sample. Even if there is not enough normal force to
damage the sample, there can still be enough to deform
the sample, increasing the contact area (and the effective
probe size) and reducing the resolution of the scan. In Peak
Force Tapping, the probe and sample are intermittently
brought together (similar to TappingMode) to contact the

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในการสแกนโพรบ microscopy มีสองหลัก สาเหตุของความเสียหายคำแนะนำและตัวอย่าง ด้านข้างมีแรงที่จะ คำแนะนำที่ exerts ในตัวอย่างสามารถทำให้ตัวอย่างการฉีก( แนะนำ plows ผ่านตัวอย่าง) ในทำนองเดียวกัน ด้านข้างบังคับจาก ตัวอย่างยากสามารถทำตามคำแนะนำทำให้ร้าว และ แบ่งออก กองกำลังปกติทำให้เกิดความเสียหายทั้งสอง คำแนะนำและตัวอย่าง แม้จะไม่มีแรงพอปกติจะ ตัวอย่างความเสียหาย สามารถยังคงมีเพียงพอที่จะทำให้พิการ ตัวอย่าง เพิ่มพื้นที่ติดต่อ (มีประสิทธิภาพ โพรบขนาด) และลดความละเอียดของการสแกน ในช่วง Peak แรงแตะ โพรบ และตัวอย่างเป็นระยะ ๆ นำเข้าด้วยกัน (คล้ายกับ TappingMode) ติดต่อ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในการสแกนตรวจสอบการใช้กล้องจุลทรรศน์มีสองหลัก
สาเหตุของเคล็ดลับและตัวอย่างความเสียหาย ใด ๆ ที่แรงด้านข้างที่
ปลายออกแรงตัวอย่างอาจทำให้เกิดตัวอย่างที่จะฉีก (
ไถเคล็ดลับผ่านตัวอย่าง) ในทำนองเดียวกันกองกำลังด้านข้างจาก
ตัวอย่างยากที่จะทำให้เกิดการสิ้นสุดของเคล็ดลับที่จะหักและ
แตกออกมา กองกำลังปกติยังสามารถทำให้เกิดความเสียหายให้กับทั้ง
เคล็ดลับและตัวอย่าง แม้ว่าจะมีไม่ปกติแรงพอที่จะ
ทำให้เกิดความเสียหายตัวอย่างยังคงสามารถพอที่จะทำให้เสียโฉม
ตัวอย่างการเพิ่มพื้นที่สัมผัส (และมีประสิทธิภาพ
ขนาดสอบสวน) และลดความละเอียดของการสแกน ในจุดสุดยอด
ของกองทัพเคาะ, สอบสวนและตัวอย่างจะเป็นช่วง
นำมารวมกัน (คล้ายกับ TappingMode) ที่จะติดต่อ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในการสแกนกล้องจุลทรรศน์เครื่องมีสองสาเหตุหลัก
เคล็ดลับและตัวอย่างความเสียหาย การบังคับใด ๆที่
เคล็ดลับที่จะใช้ สามารถทำให้ตัวอย่างที่จะฉีก (
เคล็ดลับ plows ผ่านตัวอย่าง ) อนึ่ง การบังคับจาก
ตัวอย่างหนัก สามารถทำให้ปลายของปลายหักและ
แบ่งออก กองทัพปกติยังสามารถก่อให้เกิดความเสียหายทั้ง
เคล็ดลับและตัวอย่างแม้ว่าจะไม่บังคับปกติพอที่จะ
ความเสียหายตัวอย่าง แต่ก็เพียงพอที่จะทำให้พิกลพิการ
ตัวอย่าง เพิ่มพื้นที่สัมผัส ( และมีประสิทธิภาพ
probe ขนาด ) และการลดความละเอียดในการสแกน ใน Peak
แรงเคาะหัวและตัวอย่างจะเป็นช่วง
มาร่วมกัน ( คล้ายกับ tappingmode ) ติดต่อ