Auger electron spectroscopy (AES, J

Auger electron spectroscopy (AES, Jeol JAMP-9500F, Wageningen,
The Netherlands) was used to determine the chemicalelements present in the sample at an electron beam energy of
10 keV. In order to perform Auger Electron Spectroscopy analyses
the washed sample was put on a silicon nitride wafer and dried
under vacuum. No sputter coating was applied to the sample.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สว่านอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก (AES, Jeol JAMP-9500F ไร Wageningenใช้เพื่อกำหนด chemicalelements แสดงในตัวอย่างที่มีพลังงานลำแสงอิเล็กตรอนของเนเธอร์แลนด์)10 keV เพื่อวิเคราะห์สว่านอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกตัวอย่างซักแล้วใส่บนเวเฟอร์ซิลิกอนไนไตรด์ และแห้งภายใต้สุญญากาศ ไม่เคลือบ sputter ใช้ตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สว่านอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก (AES, Jeol JAMP-9500F, Wageningen,
เนเธอร์แลนด์) ถูกนำมาใช้ในการกำหนด chemicalelements ที่มีอยู่ในตัวอย่างที่ลำแสงพลังงานอิเล็กตรอน
10 keV เพื่อที่จะทำการเจาะอิเล็กตรอนสเปกวิเคราะห์
ตัวอย่างล้างถูกวางลงบนแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอนไนไตรด์และแห้ง
ภายใต้สูญญากาศ ไม่มีการเคลือบปะทุถูกนำไปใช้กับกลุ่มตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สว่านอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกปี ( AES , จอล jamp-9500f Wageningen , ,เนเธอร์แลนด์ ) ถูกใช้เพื่อตรวจสอบ chemicalelements ที่มีอยู่ในตัวอย่างที่ลำแสงอิเล็กตรอนที่พลังงานของ10 เคฟ เพื่อที่จะทำการวิเคราะห์สว่านอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกปีตัวอย่างที่ล้างแล้วใส่ซิลิคอนไนไตรด์ เวเฟอร์ และแห้งภายใต้สุญญากาศ ไม่มิดหมีเคลือบถูกใช้กับตัวอย่าง