Testing embedded building blocks is

Testing embedded building blocks is much more
difficult than testing their stand-alone counterparts, and
usually this cannot be done by replicating conventional
testing techniques. In mixed-signal ICs, the most
affected components are the analog cores, since analog
testing is based on checking functional specifications,
which can be conflictive when the test time has to be
kept short, the number of available pins is reduced and
full access to inputloutput core terminals cannot be
granted.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทดสอบประกอบฝังตัวเป็นอย่างมากยากลำบากกว่าการทดสอบคู่เดี่ยวของพวกเขา และมักจะไม่สามารถทำสิ่งนี้ โดยสถานการณ์ทั่วไปทดสอบเทคนิค ในสัญญาณผสม ICs มากที่สุดส่วนประกอบที่ได้รับผลกระทบเป็นแกนแบบแอนะล็อก แอนะล็อกทดสอบตามข้อมูลจำเพาะของงาน การตรวจสอบซึ่งอาจเป็น conflictive เมื่อมีเวลาทดสอบจะเก็บสั้น หมุดมีจำนวนลดลง และไม่สามารถเข้าถึงขั้วหลัก inputloutputได้รับการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การทดสอบหน่วยการสร้างที่ฝังตัวเป็นมากขึ้นยากกว่าการทดสอบคู่ยืนอยู่คนเดียวของพวกเขาและมักจะไม่สามารถทำได้โดยจำลองแบบเดิมเทคนิคการทดสอบ ใน ICs สัญญาณผสมมากที่สุดชิ้นส่วนได้รับผลกระทบเป็นแกนอนาล็อกตั้งแต่อะนาล็อกทดสอบจะขึ้นอยู่กับการตรวจสอบรายละเอียดการทำงานซึ่งสามารถconflictive เมื่อถึงเวลาการทดสอบจะต้องมีการเก็บไว้สั้นจำนวนขาที่มีอยู่ลดลงและสามารถเข้าถึงinputloutput ขั้วหลักไม่สามารถรับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ทดสอบการสร้างบล็อกฝังตัวเป็นมากขึ้นยากกว่าการทดสอบคู่เดี่ยว

ปกติ และไม่สามารถทำได้โดยการเลียนแบบเทคนิคการทดสอบปกติ

in ics signal แตนและ most
จักรวรรดิใหม่ the analog cores , since อุป analog
is ขณะ checking specifications functional ,
which : conflictive , the ยังไม่
kept short ,จํานวนหมุดที่มีอยู่จะลดลงและการเข้าถึงแบบเต็มเพื่อ inputloutput ขั้วหลัก

ไม่ได้อนุญาต