Recent progress of SEM technology e

Recent progress of SEM technology enabled us to observe the ordered structure of mesoporous materials.
Direct SEM observation of mesoporous materials can provide detail information on the external and
internal structures, though it often faces charging problems of insulating frameworks and the structural
collapse due to the electron beam irradiation. Low voltage SEM observation has become common both
for top-surface imaging and reducing beam damage. In this work, high-resolution, direct SEM imaging of
mesoporous silica powders and films was carried out under the condition of low voltages to characterize
the surface structure that cannot be evaluated by TEM,XRDandN2 adsorption/desorption measurements.
Wesynthesized SBA-15 powders using different aging temperatures, and observed the differences in surface
structure.Wealso observed the surface structure of dip-coated SBA-16 films prepared with different
template concentrations. The SBA-15 powder, which was aged at a lower temperature, was extremely
beam sensitive, and the SBA-16 films prepared on glass substrates were heavily charging. For the SEM
observation, we used beam deceleration and an improved scanning method to reduce the charging phenomenon
and beam damage. We achieved this using a Hitachi S-4800 or an SU8000 FE-SEM, which
both employ a snorkel type objective lens, a beam deceleration function and newly designed beam scan
settings that combine slow and fast scanning techniques.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความคืบหน้าล่าสุดของเทคโนโลยี SEM ช่วยให้เราสามารถสังเกตได้รับคำสั่งให้โครงสร้างของวัสดุเม.
โดยตรงสังเกต SEM ของวัสดุเมโซพอรัสสามารถให้ข้อมูลรายละเอียดเกี่ยวกับภายนอกและ
โครงสร้างภายในแม้ว่ามันมักจะเผชิญกับปัญหาการเรียกเก็บเงินของฉนวนกรอบและโครงสร้าง
การล่มสลายเนื่องจากอิเล็กตรอน แสงฉายรังสี แรงดันต่ำ SEM สังเกตได้กลายเป็นสามัญทั้ง
สำหรับการถ่ายภาพบนพื้นผิวและลดความเสียหายคาน ในงานนี้มีความละเอียดสูง, การถ่ายภาพโดยตรง SEM ของ
ผงซิลิกาเมโซพอรัสและภาพยนตร์ได้ดำเนินการภายใต้เงื่อนไขของแรงดันไฟฟ้าต่ำที่จะอธิบายลักษณะ
โครงสร้างพื้นผิวที่ไม่สามารถได้รับการประเมินโดย TEM การดูดซับ XRDandN2 / วัดคาย.
Wesynthesized SBA-15 ผงโดยใช้ ริ้วรอยอุณหภูมิที่แตกต่างกันและสังเกตเห็นความแตกต่างในพื้นผิว
structure.Wealso สังเกตโครงสร้างพื้นผิวของจุ่มเคลือบฟิล์ม SBA-16 เตรียมที่แตกต่างกันกับ
ความเข้มข้นของแม่แบบ ผง SBA-15 ซึ่งเป็นอายุที่อุณหภูมิต่ำเป็นอย่างมาก
ลำแสงที่สำคัญและภาพยนตร์ SBA-16 จัดทำบนพื้นผิวแก้วที่ถูกเรียกเก็บเงินอย่างหนัก สำหรับ SEM
สังเกตที่เราใช้ในการชะลอตัวของคานและวิธีการสแกนที่ดีขึ้นเพื่อลดปรากฏการณ์ชาร์จ
และความเสียหายของคาน เราประสบความสำเร็จนี้โดยใช้ฮิตาชิ S-4800 หรือ SU8000 FE-SEM ซึ่ง
ทั้งจ้างเลนส์ใกล้วัตถุประเภทดำน้ำคานฟังก์ชั่นการชะลอตัวและเพิ่งได้รับการออกแบบคานสแกน
การตั้งค่าที่รวมเทคนิคการสแกนช้าและเร็ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความคืบหน้าล่าสุดของ SEM เทคโนโลยีช่วยให้เราสังเกตโครงสร้างที่เป็นระเบียบของวัสดุเมโซ .
จากการสังเกตวัสดุเมโซสามารถให้ข้อมูลรายละเอียดเกี่ยวกับโครงสร้างภายในและภายนอก
ถึงแม้ว่ามันมักจะเผชิญปัญหาของการฉนวนกรอบและโครงสร้าง
ยุบเนื่องจากอิเล็กตรอนบีมการฉายรังสีการสังเกตแบบแรงดันต่ำได้กลายเป็นสามัญทั้ง
สำหรับการถ่ายภาพพื้นผิวด้านบนและลดคานเสียหาย ในงานนี้ ความละเอียดสูง ภาพ SEM โดยตรงของ
แป้งเมโซพอรัสซิลิกาและภาพยนตร์ได้ดำเนินการภายใต้เงื่อนไขของแรงดันไฟฟ้าต่ำลักษณะ
โครงสร้างผิวที่ไม่สามารถประเมินได้จากแบบ xrdandn2 , การดูดซับและปลดปล่อย
การวัดwesynthesized ผง sba-15 อายุแตกต่างกันโดยใช้อุณหภูมิ และสังเกตความแตกต่างในพื้นผิว structure.wealso
สังเกตโครงสร้างผิวของจุ่มเคลือบ sba-16 ภาพยนตร์เตรียมแม่แบบที่มีความเข้มข้นแตกต่างกัน

การ sba-15 ผง ซึ่งเป็นอายุที่อุณหภูมิต่ำมากๆ
บีมที่อ่อนไหว และ sba-16 ภาพยนตร์ที่เตรียมไว้บนพื้นผิวกระจกหนักชาร์จสำหรับ SEM
สังเกต เราใช้วิธีสแกนของคานและการปรับปรุงเพื่อลดการปรากฏการณ์
และคานเสียหาย เราบรรลุนี้โดยใช้ซอฟต์แวร์ s-4800 หรือ su8000 fe-sem ซึ่ง
ทั้งจ้างท่อหายใจชนิดเลนส์วัตถุประสงค์ , คานและคานที่ออกแบบใหม่ของฟังก์ชันสแกน
ตั้งค่ารวมช้าและรวดเร็วสแกนเทคนิค