Ellipsometry is generally a non-inv

Ellipsometry is generally a non-invasive, non-destructive measurement technique to obtain
optical properties of a sample material by means of the reflected light waves. The technique
measures a relative change in polarization and is therefore not dependent on absolute intensity
as long as the absolute intensity is sufficient. This makes ellipsometric measurement
very precise and reproducible.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Ellipsometry โดยทั่วไปเทคนิคการวัดแบบไม่ทำลาย ตรวจรับคุณสมบัติแสงของวัสดุตัวอย่างโดยวิธีการสะท้อนคลื่นแสง เทคนิควัดการเปลี่ยนแปลงสัมพัทธ์ในโพลาไรซ์ และไม่ขึ้นอยู่กับความเข้มข้นแน่นอนตราบใดที่ความเข้มข้นที่แน่นอนเพียงพอ ทำให้การวัด ellipsometricแม่นยำมาก และทำซ้ำได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ellipsometry โดยทั่วไปไม่รุกรานเทคนิคการวัดแบบไม่ทำลายเพื่อให้ได้
คุณสมบัติทางแสงของวัสดุตัวอย่างโดยวิธีการของคลื่นแสงที่สะท้อน เทคนิคที่
มีขนาดการเปลี่ยนแปลงเมื่อเทียบกับในโพลาไรซ์และดังนั้นจึงไม่ได้ขึ้นอยู่กับความรุนแรงแน่นอน
ตราบใดที่ความเข้มแน่นอนก็เพียงพอแล้ว นี้จะทำให้การวัด ellipsometric
แม่นยำมากและทำซ้ำได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลิปโซมิตรีโดยทั่วไปเป็นหลัก เทคนิคการวัดแบบไม่ทำลายเพื่อขอรับสมบัติทางแสงของวัสดุตัวอย่างโดยวิธีการของแสงสะท้อนคลื่น เทคนิคมาตรการการเปลี่ยนแปลงที่สัมพันธ์กันในโพลาไรเซชันและดังนั้นจึงไม่ได้ขึ้นอยู่กับความสมบูรณ์ตราบใดที่ความสมบูรณ์เพียงพอ นี้จะทำให้การวัด ellipsometricแม่นยํามาก และ 10 .