Along with the transmission electro

Along with the transmission electron microscopes the scanning electron microscopes are extensively used in the field of science. The SEM lets us see the surface of three dimensional specimens in very high resolution. They are 10 times less powerful than the TEM, but produce sharp, high resolution, black and white images. It scans the surface of an object with focused electron beams by identifying electrons that are reflected and deflected from the surface of an object. Small objects like insects can be viewed on SEM without losing the focus even on low magnifications making it one of the best electron microscopes for generating three dimensional images. SEM is also used to provide information on morphology, and topography.




lets us see the surface of three-dimensional objects in high resolution. It works by scanning the surface of an object with a focused beam of electrons and detecting electrons that are reflected from and knocked off the sample surface. At low magnifications, entire objects (such as insects) viewed on the SEM can be in focus at the same time. That’s why the SEM is so good at generating three-dimensional images of lice, flies, snowflakes and so on.



The SEM is routinely used to generate high-resolution images of shapes of objects (SEI) and to show spatial variations in chemical compositions: 1) acquiring elemental maps or spot chemical analyses using EDS, 2)discrimination of phases based on mean atomic number (commonly related to relative density) using BSE, and 3) compositional maps based on differences in trace element "activitors" (typically transition metal and Rare Earth elements) using CL. The SEM is also widely used to identify phases based on qualitative chemical analysis and/or crystalline structure. Precise measurement of very small features and objects down to 50 nm in size is also accomplished using the SEM. Backescattered electron images (BSE) can be used for rapid discrimination of phases in multiphase samples. SEMs equipped with diffracted backscattered electron detectors (EBSD) can be used to examine microfabric and crystallographic orientation in many materials.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่ง กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนอย่างกว้างขวางใช้ในด้านวิทยาศาสตร์การ SEM ช่วยให้เราเห็นพื้นผิวของ specimens สามมิติในความละเอียดสูงมาก พวกเขามี 10 เท่าน้อยกว่าการยการ ได้สร้างภาพที่คมชัด สูงความละเอียด สีดำและสีขาว มันสแกนพื้นผิวของวัตถุที่มีอิเล็กตรอนเน้นรับลำแสงอิเล็กตรอนที่สะท้อน และ deflected จากพื้นผิวของวัตถุ ที่ระบุ คุณสามารถดูวัตถุขนาดเล็กเช่นแมลงใน SEM โดยไม่สูญเสียโฟกัสแม้ในขนาดต่ำสุดที่ทำให้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนดีที่สุดสำหรับการสร้างภาพสามมิติอย่างใดอย่างหนึ่ง ยังมีใช้ SEM ในการให้ข้อมูลเกี่ยวกับสัณฐานวิทยา และภูมิประเทศทำให้เราเห็นพื้นผิวของวัตถุสามมิติในความละเอียดสูง ทำงาน โดยการสแกนพื้นผิวของวัตถุกับแสงโฟกัสของอิเล็กตรอน และอิเล็กตรอนที่สะท้อนจาก และโบว์ลิ่งปิดพื้นผิวตัวอย่าง การตรวจสอบ ในขนาดต่ำ วัตถุทั้งหมด (เช่นแมลง) ดูใน SEM สามารถโฟกัสในเวลาเดียวกัน ทำไม SEM มีดีที่การสร้างภาพสามมิติของเหา แมลงวัน เกล็ดหิมะและใช้ SEM เป็นประจำ เพื่อสร้างภาพความละเอียดสูงของรูปทรงของวัตถุ (อีไอ) และรูปแบบพื้นที่ในองค์เคมี: 1) ได้แผนที่ธาตุหรือเคมีวิเคราะห์จุดที่ใช้ EDS, 2) แบ่งแยกของระยะตามหมายถึงเลขอะตอม (ความหนาแน่นโดยทั่วไปที่เกี่ยวข้องกับญาติ) ใช้ BSE แผนที่ 3) compositional ตามความแตกต่างในองค์ประกอบติดตาม "activitors" (โดยทั่วไปโลหะทรานซิชันและองค์ประกอบของธาตุหายาก) ใช้ CL กันอย่างแพร่หลายยังใช้ SEM ที่ระบุระยะตามเคมีวิเคราะห์เชิงคุณภาพและ/หรือโครงสร้างผลึก แม่นยำการวัดคุณลักษณะขนาดเล็กมากและวัตถุลง 50 nm ขนาดยังได้ใช้ Backescattered SEM. ภาพอิเล็กตรอน (BSE) สามารถใช้สำหรับการเลือกปฏิบัติอย่างรวดเร็วของขั้นตอนในตัวอย่าง multiphase เรียงหน้าหรือไม่มี diffracted backscattered อิเล็กตรอนจับ (EBSD) สามารถใช้เพื่อตรวจสอบ microfabric และแนว crystallographic วัสดุหลาย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พร้อมกับการส่งผ่านอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดถูกใช้อย่างกว้างขวางในด้านวิทยาศาสตร์ SEM ช่วยให้เรามองเห็นพื้นผิวของสามมิติตัวอย่างในความละเอียดสูงมาก พวกเขามี 10 ครั้งที่มีประสิทธิภาพน้อยกว่า TEM แต่ผลิตคมชัดความละเอียดสูงภาพสีดำและสีขาว มันจะสแกนพื้นผิวของวัตถุที่มีลำแสงอิเล็กตรอนเน้นที่โดยการระบุอิเล็กตรอนที่มีการสะท้อนและการหักเหจากพื้นผิวของวัตถุ วัตถุขนาดเล็กเช่นแมลงสามารถดูได้บน SEM โดยไม่สูญเสียโฟกัสแม้ในกำลังขยายต่ำทำให้มันเป็นหนึ่งในที่ดีที่สุดกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสำหรับการสร้างภาพสามมิติ SEM จะใช้ในการให้ข้อมูลเกี่ยวกับลักษณะทางสัณฐานวิทยาและภูมิประเทศ. ช่วยให้เราเห็นพื้นผิวของวัตถุสามมิติความละเอียดสูง มันทำงานโดยการสแกนพื้นผิวของวัตถุที่มีลำแสงเน้นของอิเล็กตรอนและอิเล็กตรอนการตรวจสอบที่มีการสะท้อนจากและเคาะออกจากพื้นผิวของตัวอย่าง ที่กำลังขยายต่ำวัตถุทั้งหมด (เช่นแมลง) ดูได้ใน SEM สามารถในการมุ่งเน้นในเวลาเดียวกัน นั่นคือเหตุผลที่ SEM เป็นเพื่อที่ดีที่การสร้างภาพสามมิติของเหาแมลงวันเกล็ดหิมะและอื่น ๆ . SEM ใช้เป็นประจำเพื่อสร้างภาพความละเอียดสูงของรูปทรงของวัตถุ (SEI) และเพื่อแสดงการเปลี่ยนแปลงเชิงพื้นที่ในองค์ประกอบทางเคมี: 1) การรับแผนที่ธาตุหรือจุดวิเคราะห์ทางเคมีโดยใช้ EDS 2) การเลือกปฏิบัติขั้นตอนขึ้นอยู่กับค่าเฉลี่ยเลขอะตอม (ที่เกี่ยวข้องกันทั่วไปเพื่อความหนาแน่นสัมพัทธ์) โดยใช้ BSE และ 3) แผนที่ compositional อยู่บนพื้นฐานของความแตกต่างในธาตุ "activitors" (มักจะเปลี่ยนโลหะ และธาตุหายาก) โดยใช้ CL SEM ยังเป็นที่ใช้กันอย่างแพร่หลายในการระบุขั้นตอนที่อยู่บนพื้นฐานของการวิเคราะห์ทางเคมีเชิงคุณภาพและ / หรือโครงสร้างผลึก วัดที่แม่นยำของคุณสมบัติขนาดเล็กมากและวัตถุลงไป 50 นาโนเมตรในขนาดที่จะประสบความสำเร็จนอกจากนี้ยังใช้ SEM Backescattered ภาพอิเล็กตรอน (BSE) สามารถใช้สำหรับการเลือกปฏิบัติอย่างรวดเร็วของขั้นตอนในตัวอย่างมัลติ SEMs การติดตั้งเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนกระจายได้สะท้อน (EBSD) สามารถนำมาใช้ในการตรวจสอบและการวางแนว microfabric crystallographic ในวัสดุหลายชนิด