Figure 12.10 shows that the testing

Figure 12.10 shows that the testing of wafer scanners is indeed a Spaghetti process [82]. The model was discovered based on an event log containing 154,966 events. The event log contained information about 24 carefully chosen wafer scanners (same type, same circumstances, and having complete logs).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปที่ 12.10 แสดงว่า การทดสอบสแกนเนอร์แผ่นเวเฟอร์เป็นกระบวนการสปาเก็ตตี้ [82] แบบจำลองถูกค้นพบตามบันทึกเหตุการณ์ประกอบด้วยเหตุการณ์ 154,966 แฟ้มบันทึกเหตุการณ์ประกอบด้วยข้อมูลเกี่ยวกับสแกนเนอร์แผ่นเวเฟอร์เลือก 24 (ชนิดเดียวกัน สถานการณ์เดียวกัน และมีบันทึกที่สมบูรณ์)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 12.10 แสดงให้เห็นว่าการทดสอบของสแกนเนอร์เวเฟอร์เป็นจริงกระบวนการปาเก็ตตี้ [82] รูปแบบที่ถูกค้นพบอยู่บนพื้นฐานของบันทึกเหตุการณ์ที่มี 154,966 เหตุการณ์ บันทึกเหตุการณ์ที่มีข้อมูลเกี่ยวกับ 24 เลือกอย่างระมัดระวังสแกนเนอร์เวเฟอร์ (ชนิดเดียวกันสถานการณ์เดียวกันและมีการบันทึกที่สมบูรณ์)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูป แสดง ว่า การทดสอบของสแกนเนอร์ 12.10 เวเฟอร์จะเป็นสปาเก็ตตี้กระบวนการ [ 82 ] แบบที่ถูกค้นพบตามบันทึกเหตุการณ์ที่มี 154966 เหตุการณ์ บันทึกเหตุการณ์ มีข้อมูลเกี่ยวกับ 24 เลือกอย่างระมัดระวังสแกน ( เวเฟอร์เดียวกัน ชนิดเดียวกัน สถานการณ์ และมีการบันทึกที่สมบูรณ์ )