The light absorption of photocataly

The light absorption of photocatalysts was fully characterized
by UV–visible spectrophotometer (UV–vis, Varian Cary-100). The
specific surface area of photocatalyst was determined by N2
adsorption using Physisorption Analyzer (Micromeritics ASAP
2000). Powder X-ray diffractometer (XRD, Bruker-D8-ADVANCE)
was used to verify the crystalline structure of the photocatalysts.
The X-ray photoelectron spectroscopy (XPS, Thermo Scientific
Theta Probe) was used to determine the oxidation states of the elements.
Transmission electron microscope (TEM, Philips Tecnai F30
FEI) was performed to reveal the existence of Pt on the photocatalyst
surface at an acceleration voltage of 200 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทั้งหมดมีลักษณะดูดซึมแสง photocatalystsโดย UV – เห็นเครื่องทดสอบกรดด่าง (UV – vis แครีแกรนต์-100 แล้วแต่กำหนด) ที่กำหนดพื้นที่เฉพาะของ photocatalyst โดย N2ดูดซับที่ใช้วิเคราะห์ Physisorption (อนุภาคศาสตร์โดยเร็ว2000) ผงเอกซเรย์ diffractometer (XRD, Bruker D8 ล่วงหน้า)ใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างผลึกของ photocatalystsการเอ็กซ์เรย์ photoelectron ก (XPS วิทยาศาสตร์เทอร์โมโพรบทีตา) ถูกใช้เพื่อกำหนดสถานะออกซิเดชันขององค์ประกอบส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ยการ F30 ฟิลิปส์ Tecnaiทำให้เหมาะกับการดำรงอยู่ของ Pt บน photocatalyst เฟย)พื้นผิวที่มีแรงเร่ง 200 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การดูดซึมแสงของโฟโตคะก็มีลักษณะอย่างเต็มที่โดย spectrophotometer ยูวีที่มองเห็นได้ (UV-Vis, Varian Cary-100) พื้นที่ผิวที่เฉพาะเจาะจงของ photocatalyst ถูกกำหนดโดย N2 การดูดซับโดยใช้ Physisorption วิเคราะห์ (Micromeritics ASAP 2000) ผงมาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD, Bruker-D8-ADVANCE) ถูกนำมาใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างผลึกของโฟโตคะได้. สเปคโทรโฟโตเอ็กซ์เรย์ (XPS, เทอร์โมวิทยาศาสตร์ทีProbe) ถูกใช้ในการตรวจสอบรัฐออกซิเดชันขององค์ประกอบส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM ฟิลิปส์ Tecnai F30 FEI) ได้ดำเนินการที่จะเปิดเผยการดำรงอยู่ของพอยต์ใน photocatalyst ที่พื้นผิวที่แรงดันการเร่งความเร็วของ 200 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การดูดกลืนแสงของตัวเร่งปฏิกิริยาทั้งหมดลักษณะ
โดย UV Spectrophotometer ( UV ) และมองเห็น Vis , เครื่อง cary-100 )
พื้นที่ผิวจำเพาะของ photocatalyst ถูกกำหนดโดยการดูดซับ N2
ใช้วิเคราะห์ดูดซับ ( สหภาพมาลายา ASAP
2000 ) แป้งเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( XRD , bruker-d8-advance )
ถูกใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างของตัวเร่งปฏิกิริยา .
เอ็กซ์เรย์โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกปี ( XPS , เทอร์โมวิทยาศาสตร์
Theta probe ) ถูกใช้เพื่อกำหนดสถานะออกซิเดชันขององค์ประกอบ .
กล้องจุลทรรศน์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM , Philips tecnai F30
เฟย ) ได้เปิดเผยการดำรงอยู่ของจุดบนพื้นผิว photocatalyst
ที่เร่งแรงดัน 200 KV .