2.2. Surface modification and characterisation of silica
Table 1 shows the recipes used for PSi surface modification.
Firstly, the PSi was dispersed in distilled water
under vigorous stirring prior to the addition of 3 M KOH.
After stirring for 30 min, 98% w/w CS2 was then carefully
poured into the silica suspension. After vigorous stirring for
24 h, 10% w/w ZnCl2 solution was added, and the suspension
was further stirred for 30 min. Finally, white solid
particles were recovered by a centrifugation technique,
washed twice with distilled water to remove the unreacted
residual reagents, and dried in a hot air oven at 50 C for
24 h. Surface chemistry of the unmodified PSi (UMS) and
modified PSi (ZMS) was characterised by Fourier transform
infrared spectroscopy (FTIR; Perkin-Elmer, System 2000
spectrometer, USA), using the transmission mode under a
wavenumber ranging of 4,000–400 cm1 with a resolution
of 4 cm1. The elemental compositions of the UMS and ZMS
were determined by scanning electron microscopy (SEM;
Hitachi model S-3400N, Japan), equipped with energy
dispersive X-ray spectroscopy (EDS). Measurement of
agglomerate size was carried out by a particle size analyzer
(Malvern Mastersizer 2000, Malvern Instruments Ltd.,
U.K.). Approximately 1 g of the sample was dispersed in
20 ml of distilled water, and the suspension was sonicated
in a water bath for 15 min prior to the measurement.
2.2 การปรับเปลี่ยนพื้นผิวและลักษณะของซิลิกา
ตารางที่ 1 แสดงสูตรที่ใช้ในการปรับผิว PSI.
ประการแรก PSI กำลังแพร่ระบาดในน้ำกลั่น
ภายใต้กวนแข็งแรงก่อนที่จะมีการเพิ่มขึ้นของ 3 M KOH.
หลังจากที่กวนเป็นเวลา 30 นาที, 98% w / W CS2 ถูกแล้วอย่าง
เทลงไปในการระงับซิลิกา หลังจากที่กวนแข็งแรงสำหรับ
24 ชั่วโมง, 10% w / วิธีการของ W ZnCl2 ถูกเพิ่มเข้ามาและระงับ
ถูกกวนต่อไปเป็นเวลา 30 นาที สุดท้ายที่เป็นของแข็งสีขาว
อนุภาคถูกกู้คืนโดยใช้เทคนิคการหมุนเหวี่ยงการ
ล้างครั้งที่สองด้วยน้ำกลั่นที่จะลบ unreacted
น้ำยาที่เหลือและแห้งในเตาอบลมร้อนที่อุณหภูมิ 50 องศาเซลเซียสเป็น
เวลา 24 ชั่วโมง เคมีพื้นผิวของ PSI แปร (UMS) และ
แก้ไข psi (ZMS) ก็มีลักษณะฟูเรียร์
อินฟราเรด (FTIR; Perkin-Elmer ระบบ 2000
สเปกโตรมิเตอร์, USA) ใช้โหมดการส่งภายใต้
wavenumber ตั้งแต่ของ 4,000-400 ซม.? 1 ที่มีความละเอียด
ของ 4 ซม. 1 องค์ประกอบธาตุของ UMS และ ZMS
ถูกกำหนดโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM;
Hitachi รุ่น S-3400N, ญี่ปุ่น) พร้อมกับพลังงาน
กระจายสเปกโทรสโก X-ray (EDS) การวัด
ขนาดจับเป็นก้อนได้ดำเนินการโดยการวิเคราะห์ขนาดอนุภาค
(เวิร์น Mastersizer 2000 เวิร์เครื่องมือ จำกัด ,
UK) ประมาณ 1 กรัมของกลุ่มตัวอย่างที่กำลังแพร่ระบาดใน
20 ml ของน้ำกลั่นและระงับถูก sonicated
ในอ่างน้ำนาน 15 นาทีก่อนที่จะมีการวัด
การแปล กรุณารอสักครู่..
