XRD patterns of the as-deposited sa

XRD patterns of the as-deposited samples (a) without an AryN plasma treatment and (b) with an AryN plasma pre-treatment prior to the deposition of the Ta film.The Ta films have a nominal thickness of 45 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบ XRD ที่ฝากเป็นตัวอย่าง (ก) โดยไม่มีการรักษาพลาสม่า AryN และ (ข) มีการบำบัดก่อนพลาสมา AryN ก่อนสะสมของฟิล์มตาฟิล์มตามีแบบความหนาของ 45 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ XRD ของฝากเป็นตัวอย่าง () โดยการรักษาพลาสม่า Aryn และ (ข) กับพลาสม่า Aryn ก่อนการรักษาก่อนที่จะมีการทับถมของหนังตา film.The ตามีความหนาระบุของ 45 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วิเคราะห์รูปแบบของที่ฝากตัวอย่าง ( ) โดยไม่มี aryn พลาสมารักษาและ ( b ) มี aryn พลาสมาและก่อนการทับถมของทาทา ฟิล์ม ฟิล์มมีความหนาน้อย 45 nm .