To evaluate the feasibility of mate

To evaluate the feasibility of material characterization using X-ray technology, unknown unmounted ICs as well as mounted ICs and other SMD components on single- and double-sided printed circuit boards were examined. Absorption profiles were measured for all samples, and corrections for intensity and FWHM were applied according to the equation scheme in Eq. (3).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เพื่อประเมินความเป็นไปได้ของการระบุคุณลักษณะของวัสดุโดยใช้เทคโนโลยีเอ็กซ์เรย์ ได้ทำการตรวจสอบไอซีที่ยังไม่ได้ติดตั้งที่ไม่รู้จัก รวมถึงไอซีที่ติดตั้งและส่วนประกอบ SMD อื่นๆ บนแผงวงจรพิมพ์ด้านเดียวและสองด้าน โปรไฟล์การดูดซึมถูกวัดสำหรับตัวอย่างทั้งหมด และการแก้ไขสำหรับความเข้มและ FWHM ถูกนำมาใช้ตามแผนสมการในสมการ (3)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อประเมินความเป็นไปได้ของการใช้เทคโนโลยี X-ray สำหรับลักษณะของวัสดุ IC ที่ไม่ได้ติดตั้งที่ไม่รู้จักและ IC และส่วนประกอบ SMD อื่น ๆ ที่ติดตั้งบนแผงวงจรพิมพ์ด้านเดียวและสองด้านได้รับการตรวจสอบ เส้นโค้งการดูดซับของตัวอย่างทั้งหมดได้รับการวัดและแก้ไขความเข้มและ FWHM ตามสูตรสมการในสมการ (3)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพื่อประเมินความเป็นไปได้ในการใช้เทคนิครังสีเอกซ์เพื่อแสดงคุณสมบัติของวัสดุได้มีการทดสอบICที่ไม่ได้ติดตั้งและICที่ติดตั้งและส่วนประกอบSMDอื่นๆบนแผงวงจรพิมพ์ด้านเดียวและด้านหน้า วัดเส้นโค้งการดูดกลืนของตัวอย่างทั้งหมดและใช้ความแข็งแรงและการแก้ไขFWHMตามสมการในสมการ(1) ( 3 ).