Themorphologyofthesampleswascharact

The
morphology
of
the
samples
was
characterized
using
a
JOEL
JSM-5900LV
field-emission
scanning
electron
microscope
(FESEM,
Japan)
with
an
accelerating
voltage
of
20
kV
and
a
high
resolution
transmission
electron
microscope
(TEM,
Tecnai
G2
F20
S-TWIN,
FEI
Company,
USA).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสัณฐานวิทยาของการตัวอย่างแก้ไขลักษณะโดยใช้มีโจเอลJSM-5900LVการปล่อยการสแกนอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์(FESEMญี่ปุ่น)ด้วยมีเร่งแรงดันไฟฟ้าของ20kVและมีสูงความละเอียดส่งอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์(TEMTecnaiG2F20ห้อง Sเฟยบริษัทสหรัฐอเมริกา)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานวิทยา
ของตัวอย่างถูกลักษณะการใช้JOEL JSM-5900LV ฟิลด์ปล่อยก๊าซเรือนกระจกสแกนอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์(FESEM, ญี่ปุ่น) กับเร่งแรงดันไฟฟ้าของ20 กิโลโวลต์และสูงความละเอียดการส่งผ่านอิเล็กตรอนไมโครสโคป(TEM, Tecnai G2 F20 S-TWIN, FEI บริษัท , สหรัฐอเมริกา)