Scanning electron microscope (SEM)

Scanning electron microscope (SEM) images show the morphology change of the screen-printed Bi2Te3 TE thick film before and after PEDOT:PSS infiltration process.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ภาพแสดงสัณฐานเปลี่ยนฟิล์มหนา Bi2Te3 TE screen-printed ก่อน และ หลังกระบวนการแทรกซึมของ PEDOT:PSS

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ภาพที่แสดงให้เห็นการเปลี่ยนแปลงทางสัณฐานวิทยาของหน้าจอพิมพ์ Bi2Te3 TE ฟิล์มหนาก่อนและหลังการ PEDOT: PSS กระบวนการแทรกซึม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ภาพแสดงการเปลี่ยนแปลงรูปร่างของหน้าจอพิมพ์ bi2te3 Te ฟิล์มหนาก่อนและหลังกระบวนการแทรกซึม pedot : แฮ่ .