2.3.7. Morphological surface analys

2.3.7. Morphological surface analysisScanning electron microscopy (SEM) images of CNFs networkswere performed using a SEM Model WEGA-II TESCAN operatingat 7 kV. The apparatus used a tungsten filament electron sourceand scanned at room temperature. All samples were sputter-coatedwith gold to avoid charging.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3.7 การภาพ microscopy อิเล็กตรอน (SEM) กระทบผิว analysisScanning networkswere CNFs operatingat TESCAN SEM รุ่นเวก้า-II 7 ใช้ kV เครื่องใช้อิเล็กตรอน sourceand ใยทังสเตนสแกนที่อุณหภูมิห้อง ตัวอย่างทั้งหมดถูก sputter coatedwith ทองเพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3.7 สัณฐานวิทยากล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนพื้นผิว analysisScanning (SEM) ภาพของ CNFs networkswere ดำเนินการโดยใช้ SEM รุ่น WEGA-II TESCAN operatingat 7 กิโลโวลต์ อุปกรณ์ที่ใช้ทังสเตน sourceand อิเล็กตรอนสแกนเส้นที่อุณหภูมิห้อง ตัวอย่างทั้งหมดถูกพ่น-coatedwith ทองเพื่อหลีกเลี่ยงการเรียกเก็บเงิน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ดาวน์โหลด . ลักษณะพื้นผิว analysisscanning อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ภาพ cnfs networkswere ดำเนินการโดยใช้ SEM รุ่น wega-ii tescan operatingat 7 KV . เครื่องมือที่ใช้เป็น sourceand ทังสเตนอิเล็กตรอนสแกนที่อุณหภูมิห้อง ตัวอย่างทั้งหมดจะถูกพ่นออก coatedwith ทองเพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จ