Determination of the root cause : D

Determination of the root cause : Determination of the root cause :
The physical and electrical evidence in this case indicates that the returned sample suffered a breakdown
within the dielectric. Some potential causes of dielectric breakdown include overvoltage , inrush surge,
excessive ripple current, reverse bias, thermal stress, mechanical stress, or a weakness within the
dielectric of the capacitor. However, while current failure analysis techniques may reveal characteristics
of a components failure, they do not always allow for the determination of a root cause. In this case, a
definitive root cause of the dielectric breakdown of the capacitor .
Since a root cause could not be identified, no corrective action can be offered at this point in time.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กำหนดสาเหตุราก: กำหนดสาเหตุราก:หลักฐานทางกายภาพ และไฟฟ้าในกรณีนี้บ่งชี้ว่า อย่างส่งคืนรับความเดือดร้อนรายละเอียดภายใน dielectric บางสาเหตุอาจแบ่งเป็นฉนวนมี overvoltage กระแสกระชากคลื่นระลอกคลื่นมากเกินไปปัจจุบัน ย้อนความโน้มเอียง ความร้อนความเครียด ความเครียดเชิงกล หรือจุดอ่อนภายในdielectric ของตัวเก็บประจุ อย่างไรก็ตาม ขณะวิเคราะห์ความล้มเหลวในปัจจุบันเทคนิคอาจแสดงให้เห็นลักษณะล้มเหลวเป็นส่วนประกอบ พวกเขาไม่อนุญาตให้สำหรับการกำหนดสาเหตุราก ในกรณีนี้ การหลักทั่วไปสาเหตุของการแบ่งเป็นฉนวนของตัวเก็บประจุเนื่องจากไม่สามารถระบุสาเหตุราก การดำเนินการแก้ไขไม่สามารถนำเสนอที่ในตอนนี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความมุ่งมั่นของสาเหตุการกำหนดสาเหตุ:
หลักฐานทางกายภาพและไฟฟ้าในกรณีนี้แสดงให้เห็นว่ากลุ่มตัวอย่างกลับมาได้รับความเดือดร้อนเสีย
ภายในอิเล็กทริก สาเหตุอาจเกิดขึ้นจากการสลายอิเล็กทริกรวมถึงไฟแรงดันสูง, ไฟกระชากไหลเข้า
ปัจจุบันกระเพื่อมมากเกินไปอคติกลับความเครียดความร้อนความเครียดเชิงกลหรือความอ่อนแอภายใน
อิเล็กทริกของตัวเก็บประจุ อย่างไรก็ตามในขณะที่เทคนิคการวิเคราะห์ความล้มเหลวในปัจจุบันอาจแสดงให้เห็นลักษณะ
ของความล้มเหลวของส่วนประกอบพวกเขาไม่เคยอนุญาตให้มีการกำหนดสาเหตุ ในกรณีนี้
สาเหตุที่ชัดเจนของการสลายอิเล็กทริกของตัวเก็บประจุ.
สาเหตุเนื่องจากไม่สามารถระบุไม่มีการดำเนินการแก้ไขสามารถนำเสนอที่จุดในเวลานี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์สาเหตุราก : การหาสาเหตุราก :
หลักฐานทางกายภาพ และไฟฟ้า ในกรณีนี้แสดงว่ากลับมาตัวอย่างได้รับรายละเอียด
ภายในฉนวน . สาเหตุที่มีศักยภาพของการแบ่งแรงดันไหลรวม , ไฟกระชาก ,
ระลอกคลื่นมากเกินไปในปัจจุบัน ย้อนกลับ อคติ ความเครียด ความร้อน ความเครียดทางกลหรือความอ่อนแอภายใน
ไดอิเล็กทริกของตัวเก็บประจุ อย่างไรก็ตาม ในขณะที่เทคนิคการวิเคราะห์ความล้มเหลวในปัจจุบันอาจเปิดเผยลักษณะ
ของความล้มเหลวขององค์ประกอบที่พวกเขาไม่เสมอให้สำหรับการหารากของสาเหตุ ในกรณีนี้ สาเหตุที่ชัดเจนของการสลาย

ไดอิเล็กทริกของตัวเก็บประจุ ตั้งแต่สาเหตุรากไม่สามารถระบุว่า ไม่มีการแก้ไข สามารถให้บริการในจุดนี้ในเวลา