Morphological characterization of t

Morphological characterization of the particles
Scanning electron microscopy (SEM) was conducted on a Hitachi
microscope (Hitachi S-4100) at an accelerating voltage of 10 kV and a working distance of 9e16 mm. Samples were sputter-coated
with a goldepalladium mixture under vacuum prior to examination.
Particle diameters were measured from the SEM micrographs
in their original magnification using the ImageJ software. Size
distributions were obtained from a minimum of 200
measurements.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของอนุภาค
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) ได้ดำเนินการในฮิตาชิ
กล้องจุลทรรศน์ (ฮิตาชิ S-4100) ที่ระดับแรงดันไฟฟ้าเร่ง 10 กิโลโวลต์และระยะการทำงานของ 9e16 มิลลิเมตร ตัวอย่างพ่นเคลือบ
ที่มีส่วนผสม goldepalladium ภายใต้สูญญากาศก่อนที่จะมีการตรวจสอบ.
ขนาดเส้นผ่าศูนย์กลางของอนุภาคถูกวัดจากไมโคร SEM
ในการขยายเดิมของพวกเขาโดยใช้ซอฟแวร์ ImageJ ขนาด
การกระจายที่ได้รับจากขั้นต่ำ 200
วัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การจำแนกลักษณะทางสัณฐานวิทยาของอนุภาค
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และกล้องจุลทรรศน์ใน Hitachi
( Hitachi s-4100 ) ที่เร่งแรงดัน 10 kV และระยะทางการทำงานของ 9e16 มิลลิเมตร จำนวนมิดหมีเคลือบ
กับ goldepalladium ผสมสุญญากาศก่อนสอบ วัดจากเส้นผ่าศูนย์กลางอนุภาค

micrographs SEMในการขยายของเดิมใช้ ImageJ ซอฟต์แวร์ ที่ได้จากการกระจายขนาด

อย่างน้อย 200 วัด