The surface morphology of the films

The surface morphology of the films was done by using
atomic force microscopy (AFM) (Digital instruments Nanoscope E
with Si3N4 100 lm cantilever, 0.58 N/m force constant) in contact
mode at room temperature and scanning electron micrographs
(SEM) (JEOL JSM-5600).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาที่พื้นผิวของฟิล์มถูกทำ โดยใช้microscopy แรงอะตอม (AFM) (เครื่องมือดิจิตอล Nanoscope Eมี Si3N4 100 lm cantilever, 0.58 N m แรงคง) ในการติดต่อโหมดที่อุณหภูมิห้องและการสแกน micrographs อิเล็กตรอน(SEM) (JEOL JSM-5600)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานพื้นผิวของภาพยนตร์ที่ทำโดยใช้
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) (เครื่องมือดิจิตอล Nanoscope E
กับ Si3N4 100 เท้าแขน LM, 0.58 N / เมตรแรงคงที่) ในการติดต่อ
โหมดที่อุณหภูมิห้องและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
(SEM) (JEOL JSM -5600)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลักษณะพื้นผิวของฟิล์มทำโดยใช้
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) ( เครื่องมือดิจิตอลนาโนสโคป E
กับดิฟ 100 LM cantilever , 0.58 N / M คงบังคับ ) ในโหมดติดต่อ
ที่อุณหภูมิห้องและอิเล็กตรอนแบบสแกน ( SEM ) micrographs
( จอล jsm-5600 )