X- ray diffraction (XRD)The XRD pat

X- ray diffraction (XRD)
The XRD pattern of the sample is shown in Figure 5. Five
crystalline reflections were observed in the 2Ө range of 10 to 60o
. The peak intensities were 7.81, 50.95, 100.00,
98.52 and 21.22 at 2Ө 16.775, 25.847, 31.772, 32.3102
and 34.1056, respectively (Zhang et al, 2005). Figure 4
shows that chitin has both crystalline and amorphous
regions in the structure (Struszczyk, 1987).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

X – ray การเลี้ยวเบน (XRD)รูปแบบการ XRD ของตัวอย่างแสดงในรูปที่ 5 ห้านายสุภัคสะท้อนผลึกในช่วง 2Ө 10 ไป 60o. ปลดปล่อยก๊าซสูงสุด 7.81, 50.95, 100.0098.52 และ 21.22 ที่ 2Ө 16.775, 25.847, 31.772, 32.310234.1056 และตามลำดับ (Zhang et al, 2005) รูปที่ 4แสดงไคทินที่มีผลึก และไปภูมิภาคในโครงสร้าง (Struszczyk, 1987)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เลนส์ ray X- (XRD)
รูปแบบ XRD ของกลุ่มตัวอย่างที่แสดงให้เห็นในรูปที่ 5
ห้าสะท้อนผลึกถูกตั้งข้อสังเกตในช่วง2Ө 10 ถึง
60o ความเข้มสูงสุดอยู่ที่ 7.81, 50.95, 100.00,
98.52 และ 21.22 ที่2Ө 16.775, 25.847, 31.772, 32.3102
และ 34.1056 ตามลำดับ (Zhang et al, 2005) รูปที่ 4
แสดงให้เห็นว่าไคตินมีทั้งผลึกและสัณฐานภูมิภาคในโครงสร้าง (Struszczyk, 1987)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD )
วิเคราะห์รูปแบบของตัวอย่างที่แสดงในรูปที่ 5 5
( Reflections จำนวน 2 Өในช่วง 10 ถึง 60o

สูงสุด คือ 50.95 7.81 , เข้ม , 100.00
98.52 21.22 ที่ 2 และӨ 16.775 25.847 31.772 32.3102
, , , และ 34.1056 ตามลำดับ ( Zhang et al , 2005 ) รูปที่ 4 แสดงให้เห็นว่ามีทั้งผลึกไค

และอสัณฐานภูมิภาคในโครงสร้าง ( struszczyk , 1987 )