Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) is a method for high-resolution imaging of surfaces. The Scanning electron microscopy uses electrons for imaging, much as a light microscope uses visible light. The advantages of Scanning electron microscopy over light microscopy include much higher magnification (>100,000X) and greater depth of field up to 100 times that of light microscopy.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) คือ วิธีการภาพความละเอียดสูงพื้นผิว Microscopy อิเล็กตรอนการสแกนใช้อิเล็กตรอนสำหรับภาพ มากกล้องจุลทรรศน์แสงใช้แสงที่มองเห็น ข้อดีของการสแกน microscopy อิเล็กตรอนผ่าน microscopy แสงมีอัตราขยายสูงมาก (> 100, 000 X) และยิ่งลึกถึง 100 เท่าที่ microscopy แสง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) เป็นวิธีการสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูงของพื้นผิว กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนใช้อิเล็กตรอนสำหรับการถ่ายภาพมากที่สุดเท่าที่แสงกล้องจุลทรรศน์ที่ใช้แสงที่มองเห็น ข้อดีของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนมากกว่ากล้องจุลทรรศน์แสงรวมถึงการขยายที่สูงขึ้นมาก (> 100,000X) และลึกมากขึ้นของสนามได้ถึง 100 เท่าของกล้องจุลทรรศน์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เป็นวิธีที่ให้ภาพความละเอียดสูงของพื้นผิว การใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดอิเล็กตรอนสำหรับการถ่ายภาพมากเป็นกล้องจุลทรรศน์ใช้แสงที่มองเห็น . ข้อดีของการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนผ่านกล้องจุลทรรศน์แสง รวมถึงการขยายสูงมาก ( > 100000x ) และลึกมากขึ้นของเขตข้อมูลได้ถึง 100 เท่าของกล้องจุลทรรศน์แสง