the SiO2 sample irradiated by X-ray

the SiO2 sample irradiated by X-ray was flatly spread on the Ag tray in a black box and then was heated from 298K to about 680K by the projection lamp with constant rate of heating.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวอย่าง SiO2 irradiated โดยเอ็กซ์เรย์ flatly กระจายไปในถาด Ag ในกล่องดำ และจากนั้น ถูกความร้อนจาก 298K ประมาณ 680K โดยโคมไฟโปรเจคเตอร์ด้วยอัตราคงที่ของความร้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่าง SiO2 โดยการฉายรังสีเอ็กซ์เรย์ได้รับการแพร่กระจายไปอย่างไม่ไยดีใน​​ถาด Ag ในกล่องสีดำแล้วถูกความร้อนจาก 298K 680K ประมาณโดยการฉายโคมไฟที่มีอัตราดอกเบี้ยคงที่ของความร้อน