Thermal runaway of metal oxide elem

Thermal runaway of metal oxide elements at high AC stress is caused by a positive
feedback process due to the temperature dependence of the resistive component of
leakage current. Moreover, the power–voltage characteristic is highly non-linear so
that a small increase in voltage will result in a considerably higher power. The effect
of this is to shift curve P of Figure 5.4 upwards. This displacement will be of similar
effect as that described for the ageing effect.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

หนีความร้อนของธาตุโลหะออกไซด์ที่ความเครียด AC สูงที่เกิดจากการบวก
กระบวนการข้อเสนอแนะเนื่องจากขึ้นอยู่กับอุณหภูมิขององค์ประกอบของตัวต้านทาน
กระแสไฟฟ้ารั่ว นอกจากนี้ลักษณะการใช้พลังงานไฟฟ้าแรงสูงที่ไม่ใช่เชิงเส้นเพื่อ
ที่เพิ่มขึ้นเล็กน้อยในแรงดันไฟฟ้าที่จะส่งผลให้พลังงานที่สูงขึ้นมาก ผลกระทบ
ของเรื่องนี้คือการเปลี่ยนความโค้งของ P รูปที่ 5.4 ขึ้นไป การเคลื่อนที่นี้จะเป็นของที่คล้ายกัน
ที่มีผลอธิบายผลกระทบที่เกิดริ้วรอย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

หนีความร้อนของธาตุโลหะออกไซด์ที่ AC สูง ความเครียดเกิดจากบวก
ติชมกระบวนการเนื่องจากอุณหภูมิขึ้นอยู่กับองค์ประกอบของความต้านทาน
การรั่วไหลในปัจจุบัน นอกจากนี้ อำนาจและลักษณะไม่เป็นเชิงเส้นอย่างมากดังนั้นแรงดัน
ที่เพิ่มขึ้นเล็กน้อยในแรงดันไฟฟ้าจะส่งผลให้พลังงานสูงมาก ผล
นี่กะโค้ง P ของรูปที่ 5.4 ขึ้นไปแทนที่นี้จะมีผลที่คล้ายกัน
ที่อธิบายสำหรับอายุผล