This confirmed the success of the introduction of amorphousSiOCairand SiONC(Ar, N2and NH3)ceramic films on AlN surface asthere is no the Si 2p peak observed on the surface of untreatedAlN.Since the silicon atom is tetravalent, the Si 2p peak is alsoinfluenced by the surrounding atoms bonded to silicon e.g. themore the electronegativity (EN) of element (EN of O > N > C) bondedto Si, the higher the binding energy of the Si 2p peak wasobserved. It has been reported previously that the main lineof Si 2p peak of Si C (SiC), Si-N (Si3N4) and Si O (SiO2) wereobserved at 100.7 ± 3 eV, 102.4 ± 5 eV and 103.7 ± 5 eV, respec-tively [28–31]. This observation indicated that the pyrolysis ofPSZ in various atmospheres resulted in the formation of SiOCairand SiONC(Ar, N2and NH3)ceramics with different chemical com-position as the main lines of the Si 2p peak of SiOCairandSiONC(Ar, N2and NH3)films on AlN surface were located at differentbinding energy.For the case of pyrolysis under inert gas (Ar and N2), the mainline of the Si 2p peak of the SiONCArand SiONCN2films on AlNsurface was located at the same binding energy at 103.1 eV. How-ever, for the case of pyrolysis under air, the main line of the Si2p peak of SiOCairfilm on AlN was very intense and located atthe binding energy near Si O (SiO2). The shift of the Si 2p peakto 104.0 eV suggested that during pyrolysis of PSZ under air theoxidation reaction was involved and resulted in the introductionof O atom into SiOCairceramic network. In addition, for the case ofpyrolysis under NH3, the main line of the Si 2p peak of SiONCNH3film was shifted toward the lower binding energy (102.7 eV) alongwith the decrease of the intensity near the binding energy of Si OFig
นี้ยืนยันความสำเร็จของการแนะนำของ amorphousSiOCairand SiONC (Ar, N2and NH3) ฟิล์มเซรามิคบน AlN asthere ผิวจะไม่สังเกตค 2 พี ซีบนพื้นผิวของ untreatedAlN.Since อะตอมซิลิคอน เป็น tetravalent สูงสุด 2 พี ซีเป็น alsoinfluenced โดยรอบอะตอมพันธะกับซิลิคอนเช่น themore electronegativity (EN) ขององค์ประกอบ (น้ำ O > N > C) bondedto ศรี พลังงานยึดเหนี่ยวสูงของซีพี 2 พีค wasobserved แล้วรายงานก่อนหน้านี้ว่าพีคพี 2 ศรี lineof หลักของ Si C (SiC), ศรี-N (Si3N4) และ wereobserved O Si (SiO2) ที่ 100.7 ± 3 eV, 102.4 ± 5 eV และ 103.7 ± 5 eV, respec-tively [28-31] สังเกตการณ์นี้บ่งชี้ว่า ofPSZ ชีวภาพในบรรยากาศต่าง ๆ ส่งผลให้เกิดการก่อตัวของ SiONC SiOCairand (Ar, N2and NH3) เคลือบ ด้วยสารเคมีต่าง ๆ ตำแหน่ง com เป็นบรรทัดหลักของฟิล์มสูงสุด SiOCairandSiONC(Ar, N2and NH3) 2 พี ซีบนพื้นผิว AlN มีอยู่ที่ differentbinding พลังงาน สำหรับกรณีของชีวภาพภายใต้ก๊าซเฉื่อย (Ar และ N2), mainline ของจุดสูงสุด 2 พี ซีของ SiONCArand SiONCN2films ใน AlNsurface ได้อยู่ที่เดียวกันพลังงานรวมที่ 103.1 eV วิธีเคย สำหรับกรณีของชีวภาพภายใต้อากาศ บรรทัดหลักสูงสุด SiOCairfilm ของ Si2p บน AlN ได้รุนแรง และพลังงานยึดเหนี่ยวใกล้ O Si (SiO2) อยู่ กะ peakto 2 พี ซีที่ 104.0 eV แนะนำว่า ระหว่างไพโรไลซิของ PSZ ภายใต้อากาศ theoxidation ปฏิกิริยาที่เกี่ยวข้อง และส่งผลให้อะตอม introductionof O ลงในเครือข่าย SiOCairceramic นอกจากนี้ สำหรับ ofpyrolysis กรณีภายใต้ NH3 บรรทัดหลักสูงสุด SiONCNH3film 2p ของศรีถูกเปลี่ยนไปทางด้านล่างผูก alongwith พลังงาน (102.7 eV) ลดลงของความเข้มใกล้พลังงานยึดเหนี่ยวของ Si OFig
การแปล กรุณารอสักครู่..

นี้ได้รับการยืนยันความสำเร็จของการเปิดตัวของ amorphousSiOCairand SiONC (Ar, N2and NH3) ภาพยนตร์เซรามิกบนพื้นผิว asthere ALN ไม่มียอดศรี 2p สังเกตบนพื้นผิวของอะตอมซิลิกอน untreatedAlN.Since เป็น tetravalent, ศรี 2p สูงสุดเป็น alsoinfluenced โดย อะตอมโดยรอบผูกมัดกับซิลิกอนเช่น themore อิเล็ก (EN) ขององค์ประกอบ (EN ของ O> N> C) bondedto ศรีที่สูงกว่าพลังงานที่มีผลผูกพันศรี 2p สูงสุด wasobserved มันได้รับรายงานก่อนหน้านี้ว่ายอดเขาหลัก lineof ศรี 2p ของศรี C (SIC), Si-N (Si3N4) และศรี O (SiO2) wereobserved ที่ 100.7 ± 3 eV, 102.4 ± 5 EV และ 103.7 ± 5 eV ตามลํา ลำดับ [28-31] ข้อสังเกตนี้ชี้ให้เห็นว่าไพโรไลซิ ofPSZ ในสภาพแวดล้อมที่แตกต่างกันส่งผลให้เกิดการก่อตัวของ SiOCairand SiONC (Ar, N2and NH3) เซรามิกที่มีตำแหน่งคอมเคมีที่แตกต่างกันเป็นสายหลักของศรี 2p จุดสูงสุดของ SiOCairandSiONC (Ar, N2and NH3) ในภาพยนตร์ ALN พื้นผิวที่ตั้งอยู่ที่ differentbinding energy.For กรณีของไพโรไลซิภายใต้แก๊สเฉื่อย (Ar และ N2) ฉีดศรี 2p จุดสูงสุดของ SiONCArand SiONCN2films ใน AlNsurface ตั้งอยู่ที่พลังงานที่มีผลผูกพันเดียวกันที่ 103.1 eV วิธีการที่เคยสำหรับกรณีที่มีการไพโรไลซิภายใต้อากาศ, สายหลักของยอด Si2p ของ SiOCairfilm ใน ALN รุนแรงมากและมีผลผูกพันอยู่ atthe พลังงานใกล้ศรี O (SiO2) เปลี่ยนศรี 2p peakto 104.0 eV ชี้ให้เห็นว่าในช่วงไพโรไลซิของ PSZ ภายใต้ปฏิกิริยาอากาศ theoxidation มีส่วนเกี่ยวข้องและมีผลในอะตอม introductionof O เข้าสู่เครือข่าย SiOCairceramic นอกจากนี้สำหรับกรณีที่ ofpyrolysis ภายใต้ NH3, สายหลักของศรี 2p จุดสูงสุดของ SiONCNH3film ขยับไปทางพลังงานที่มีผลผูกพันที่ต่ำกว่า (102.7 eV) alongwith ลดลงของความเข้มพลังงานใกล้ผูกพันของศรี OFig
การแปล กรุณารอสักครู่..
