Morphological analysis of the films

Morphological analysis of the films
Films with thicknesses of around 200 mm were obtained.
shows SEM micrographs of cryofractured surfaces of control (TPS)
and active films (TPS-RE5%, TPS-RE10% and TPS-RE20%). TPS films
showed an ordered and homogeneous structure (i.e. without pores
and cracks); while, in the active films some cracks were observed
on the fractured surfaces

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิเคราะห์สัณฐานของภาพยนตร์มีความหนาประมาณ 200 มม.ได้รับ แสดง SEM micrographs cryofractured พื้นผิวควบคุม (TPS)และภาพยนตร์ที่ใช้งานอยู่ (TPS RE5%, % TPS RE10 และ TPS RE20%) ภาพยนตร์ TPSแสดงให้เห็นว่าโครงสร้างของที่สั่ง และเป็นเนื้อเดียวกัน (เช่นไม่ มีรูขุมขนและรอยแตก); ในขณะที่ ในภาพยนตร์ใช้งานที่ถูกตั้งข้อสังเกตรอยแตกบางบนพื้นผิวที่แตกร้าว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์ทางสัณฐานวิทยาของภาพยนตร์
ภาพยนตร์ที่มีความหนาประมาณ 200 มิลลิเมตรได้รับ.
แสดงให้เห็นจาก SEM ของพื้นผิว cryofractured ของการควบคุม (TPS)
และภาพยนตร์ที่ใช้งาน (TPS-RE5% TPS-RE10% และ TPS-RE20%) ภาพยนตร์ TPS
แสดงให้เห็นโครงสร้างที่สั่งซื้อและเป็นเนื้อเดียวกัน (คือไม่มีรูขุมขน
และรอยแตก); ในขณะที่ในภาพยนตร์ที่ใช้งานรอยแตกบางคนตั้งข้อสังเกต
บนพื้นผิวร้าว